%0 Book
%T Pattern recognition 32nd DAGM Symposium, Darmstadt, Germany, September 22-24, 2010 ; proceedings
%A Symposium Mustererkennung 32 2010 Darmstadt
%A Goesele, Michael
%A Roth, Stefan
%A Kuijper, Arjan
%A Schiele, Bernt
%A Schindler, Konrad
%A Gösele, Michael
%I Springer
%@ 3642159850
%@ 9783642159855
%K Optical pattern recognition Congresses
%K Image processing Digital techniques Congresses
%K Konferenzschrift
%K Mustererkennung
%K Kongress
%D 2010
%X Literaturangaben
%C Springer
%C Berlin
%U http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
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