%0 Generic
%T 2013 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) 2 - 4 Oct. 2013, New York City, NY
%A Institute of Electrical and Electronics Engineers
%A IEEE Computer Society
%I IEEE
%@ 9781479915859
%@ 1479915831
%@ 147991584X
%@ 9781479915835
%@ 9781479915842
%K Integrated circuits Fault tolerance Congresses
%K Integrated circuits Very large scale integration Congresses
%K Nanotechnology Congresses
%K Konferenzschrift
%K VLSI
%K Fehlertoleranz
%D 2013
%X Literaturangaben
%X Auf der Homepage als "16th IEEE Symposium ..." gezählt, insgesamt jedoch die 26. Tagung in dieser Konferenzfolge (1998 Namensänderung von "Workshop" zu "Symposium")
%C IEEE
%C Piscataway, NJ
%U http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
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