%0 Generic
%T Analysis of X-ray reflectivity data from low-contrast polymer bilayers using a Fourier method
%A Seeck, O. H.
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%A Sinha, S. K.
%A Tolan, M.
%A Shin, K.
%A Rafailovich, M. H.
%A Sokolov, J.
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%I American Institute of Physics
%@ 0003-6951
%D 2000
%X Diese Datenquelle enthält auch Bestandsnachweise, die nicht zu einem Volltext führen.
%C American Institute of Physics
%U http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
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