%0 Generic
%T The electrically detected magnetic resonance microscope: Combining conductive atomic force microscopy with electrically detected magnetic resonance
%A Klein, Konrad
%A Hauer, Benedikt
%A Brandt, Martin S.
%A Stoib, Benedikt
%A Trautwein, Markus
%A Matich, Sonja
%A Huebl, Hans
%A Astakhov, Oleksandr
%A Finger, Friedhelm
%A Bittl, Robert
%A Stutzmann, Martin
%I American Institute of Physics
%@ 1089-7623
%@ 0034-6748
%D 2013
%X Diese Datenquelle enthält auch Bestandsnachweise, die nicht zu einem Volltext führen.
%C American Institute of Physics
%U http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
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