%0 Generic
%T ISO/DIS 17297 Microbeam analysis - Focused ion beam application for TEM specimen preparation - Vocabulary
%A ISO/TC 202 Analysenverfahren mit Feinstrahltechnik
%A ISO/TC 202 Microbeam analysis
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%7 2024-01-00
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%D 2024-01-00
%X Internationale Übereinstimmung mit: 24/30465997 DC (2024-01-23), IDT
%C International Organization for Standardization
%C Geneve
%U http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
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