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Zewail, Ahmed H. [VerfasserIn]; Thomas, John M. [VerfasserIn]

4D electron microscopy : imaging in space and time

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London: Imperial College Press, 2010 ; Singapore [u.a.]: World Scientific, 2010
Erni, Rolf [VerfasserIn]

Aberration-corrected imaging in transmission electron microscopy : an introduction

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London: Imperial College Pr., 2010
Kirkland, Earl J. [VerfasserIn]

Advanced computing in electron microscopy - [2. ed.]

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New York; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2010
Lubk, Axel [VerfasserIn]

Quantitative off-axis Electron Holography and (multi-)ferroic interfaces

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2010
Orloff, Jon [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Handbook of charged particle optics - [2. ed.]

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Boca Raton, Fla. [u.a.]: CRC Press/ Taylor & Francis, 2009
Echlin, Patrick [VerfasserIn]

Handbook of sample preparation for scanning electron microscopy and x-ray microanalysis

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New York, NY: Springer, 2009
Spence, John C. H. [VerfasserIn]

High-resolution electron microscopy - [3. ed., 1. publ. in paperback]

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Oxford [u.a.]: Oxford Univ. Press, 2009

Erschienen in: Monographs on the physics and chemistry of materials ; 60,2009
Berndt, Markus [VerfasserIn]

Phase separation in carbon:transition metal nanocomposite thin films

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Dresden: Forschungszentrum Dresden-Rossendorf, 2009

Erschienen in: Forschungszentrum Dresden-Rossendorf: Wissenschaftlich-technische Berichte / FZD, Forschungszentrum Dresden-Rossendorf ; 527
Williams, David B. [VerfasserIn]; Carter, C. Barry [VerfasserIn]

Transmission electron microscopy : a textbook for materials science - [2. ed.]

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New York: Springer, 2009
Williams, David B. [VerfasserIn]; Carter, C. Barry [VerfasserIn]

Transmission electron microscopy / 1, Basics - [2. ed.]

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New York [u.a.]: Springer, 2009

Erschienen in: Transmission electron microscopy / David B. Williams; C. Barry Carter ; 1,2
Williams, David B. [VerfasserIn]; Carter, C. Barry [VerfasserIn]

Transmission electron microscopy / 2, Diffraction - [2. ed.]

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New York [u.a.]: Springer, 2009

Erschienen in: Transmission electron microscopy / David B. Williams; C. Barry Carter ; 2,2
Williams, David B. [VerfasserIn]; Carter, C. Barry [VerfasserIn]

Transmission electron microscopy / 3, Imaging - [2. ed.]

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New York [u.a.]: Springer, 2009

Erschienen in: Transmission electron microscopy / David B. Williams; C. Barry Carter ; 3,2
Williams, David B. [VerfasserIn]; Carter, C. Barry [VerfasserIn]

Transmission electron microscopy / 4, Spectrometry - [2. ed.]

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New York [u.a.]: Springer, 2009

Erschienen in: Transmission electron microscopy / David B. Williams; C. Barry Carter ; 4,2
Michler, Goerg H. [VerfasserIn]

Electron microscopy of polymers

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Berlin; Heidelberg: Springer, 2008

Erschienen in: Springer Laboratory manuals in polymer science
Colliex, Christian [VerfasserIn] ; Kohl, Helmut [BearbeiterIn]

Elektronenmikroskopie : eine anwendungsbezogene Einführung

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Stuttgart: Wiss. Verl.-Ges., c 2008
Schmitt, Ljubomira Ana [VerfasserIn]

Transmissionselektronenmikroskopische Untersuchung der Domänenkonfiguration in Pb(Zr1-xTix)O3-Keramiken im Bereich der morphotropen Phasengrenze

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Aachen: Shaker, 2008

Erschienen in: Berichte aus der Materialwissenschaft
Egerton, Ray [VerfasserIn]

Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM and AEM - [Nachdr.]

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New York, NY: Springer, 2007
Yamashita, Mikio [HerausgeberIn]; Shigekawa, Hidemi [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Morita, Ryuji [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy : route to femtosecond Ångstrom technology

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Berlin [u.a.]: Springer, 2005

Erschienen in: Springer series in optical sciences ; 99
Formánek, Petr [VerfasserIn]

TEM-Holographie an Bauelementestrukturen der Mikroelektronik

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2005
Han, Wei [VerfasserIn]

Application of LEEM and MIEEM in catalysis and sensor technology - [1. Aufl.]

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Clausthal-Zellerfeld: Papierflieger, 2004

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