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Theodoridis, Sergios [VerfasserIn]; Koutroumbas, Konstantinos [VerfasserIn]

Pattern recognition - [4. ed.]

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Burlington; Heidelberg [u.a.]: Academic Press, 2009
Großkopf, Rudolf E. [HerausgeberIn] ; Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung, Symposium Mustererkennung 12 1990 Oberkochen; Aalen

Mustererkennung / 12, 12. DAGM-Symposium, Oberkochen-Aalen, 24. - 26. September 1990, proceedings / R. E. Großkopf (Hrsg.)

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1990

Erschienen in: Mustererkennung ; 12 - Informatik-Fachberichte ; 254
Rastrigin, Leonard A. [VerfasserIn]; Erenštejn, Roman Ch [VerfasserIn]

Metod kollektivnogo raspoznavanija

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Moskva: Ėnergoizdat, 1981

Erschienen in: Biblioteka po avtomatike ; 615
Sklansky, Jack [VerfasserIn]; Wassel, Gustav N. [VerfasserIn]

Pattern classifiers and trainable machines

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New York, Heidelberg, Berlin: Springer, 1981
Theodoridis, Sergios [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Pikrakis, Aggelos [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Koutroumbas, Konstantinos [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Cavouras, Dionisis [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Introduction to pattern recognition : a MATLAB approach

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Amsterdam; Heidelberg [u.a.]: Elsevier Academic Press, 2010
Schlesinger, Michail I. [VerfasserIn]; Hlaváč, Václav [VerfasserIn]

Ten lectures on statistical and structural pattern recognition

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Dordrecht [u.a.]: Kluwer Acad. Publ., 2002

Erschienen in: Computational imaging and vision ; 24
Theodoridis, Sergios [VerfasserIn]; Koutroumbas, Konstantinos [VerfasserIn]

Pattern recognition

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San Diego, Calif.; London [u.a.]: Academic Press, 1999
Therrien, Charles W. [VerfasserIn]

Decision estimation and classification

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New York [u.a.]: Wiley, 1989
Collings, Neil [VerfasserIn]

Optical pattern recognition using holographic techniques

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Wokingham [u.a.]: Addison-Wesley, 1988

Erschienen in: Electronic systems engineering series
Niemann, Heinrich [VerfasserIn]

Pattern analysis and understanding - [2. ed.]

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1990

Erschienen in: Springer series in information sciences ; 4.1990
Young, Tzay Y. [VerfasserIn]; Calvert, Thomas W. [VerfasserIn]

Classification, estimation and pattern recognition

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New York [u.a.]: Elsevier, 1974
Singh, Sameer [HerausgeberIn]; Singh, Maneesha [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Progress in pattern recognition : [International Workshop on Advances in Pattern Recognition, IWAPR, 2007]

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London: Springer, 2007

Erschienen in: Advances in pattern recognition
Theodoridis, Sergios [VerfasserIn]; Koutroumbas, Konstantinos [VerfasserIn]

Pattern recognition - [3. ed.]

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Amsterdam; Heidelberg[u.a.]: Elsevier Academic Press, 2006
Kovalevskij, Vjačeslav A. [VerfasserIn] ; Brown, Arthur [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Image pattern recognition

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New York, Heidelberg, Berlin: Springer-Verl., 1980
Watanabe, Satoshi [HerausgeberIn] ; International Conference on Frontiers of Pattern Recognition 1971 Honolulu, Hawaii

Frontiers of pattern recognition : the proceedings of the International Conference on Frontiers of Pattern Recognition jointly sponsored by ... held at Honolulu, Hawaii, January 18-20, 1971

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New York [u.a.]: Academic Pr., 1972
Sá, Joaquim P. Marques de [VerfasserIn]

Pattern recognition : concepts, methods and applications

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2001
Simon, Jean C. [VerfasserIn]; Simon, Jean Claude [VerfasserIn]

Patterns and operators : the foundations of data representation - [1. publ.]

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London: North Oxford Academic Publishers, 1986
Niemann, Heinrich [VerfasserIn]

Methoden der Mustererkennung

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Frankfurt am Main: Akad. Verl.-Ges., 1974

Erschienen in: Informationsverarbeitung in technischen, biologischen und ökonomischen Systemen ; 2
Gaidzik, Peter Wolfgang [VerfasserIn]

Pattern classification : a unified view of statistical and neural approaches

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New York [u.a.]: Wiley & Sons, 1996

Erschienen in: A Wiley-Interscience publication
Treiber, Marco [VerfasserIn]

An introduction to object recognition : selected algorithms for a wide variety of applications

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London; Heidelberg [u.a.]: Springer, c 2010

Erschienen in: Advances in pattern recognition

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