Zum Inhalt springen Ghione, Giovanni Kudos To Our Reviewers Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2015 Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices Ghione, Giovanni Kudos to Our Reviewers Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2016 Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices Ghione, Giovanni An efficient, CAD-oriented model for the characteristic parameters of multiconductor buses in high-speed digital GaAs ICs Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Springer Science and Business Media LLC, 1994 Erschienen in: Analog Integrated Circuits and Signal Processing Ghione, Giovanni; Pirola, Marco On the Lower Bound to the Input and Output Mismatch of Conditionally Stable Linear Two-Ports Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2023 Erschienen in: IEEE Journal of Microwaves Ghione, Giovanni; Pirola, Marco Revisiting the Power Gains of a Loaded Two-Port: Is There a Missing Element? Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. MDPI AG, 2024 Erschienen in: Electronics Andrieu, Francois; Ghione, Giovanni Editorial Special Section on ESSDERC Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2020 Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni On the application of the Kirchhoff transformation to the steady-state thermal analysis of semiconductor devices with temperature-dependent and piecewise inhomogeneous thermal conductivity Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Elsevier BV, 1995 Erschienen in: Solid-State Electronics Ghione, Giovanni; Naldi, Carlo Comments on "Capacitance Bebetween Perpendicular Conducting Planes Separated by a Gap" Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 1987 Erschienen in: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility Piacibello, Anna; Pirola, Marco; Ghione, Giovanni Generalized Symmetrical 3 dB Power Dividers With Complex Termination Impedances Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2020 Erschienen in: IEEE Access Donati Guerrieri, Simona; Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni Large-signal variability of microwave power amplifiers through efficient device sensitivity-based physical modeling : Guerrieri : Guerrieri Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Hindawi Limited, 2017 Erschienen in: International Journal of RF and Microwave Computer-Aided Engineering Ghione, Giovanni; Iniguez, Benjamin; Rajan, Siddharth Changes in the Editorial Board Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2016 Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices Furno, Mauro; Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni Novel TCAD-Oriented Definition of the off-State Breakdown Voltage in Schottky-Gate FETs: A 4H–SiC MESFET Case Study Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2008 Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices Malagoni Buiatti, Gustavo; Cappelluti, Federica; Ghione, Giovanni Physics-Based PiN Diode SPICE Model for Power-Circuit Simulation Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2007 Erschienen in: IEEE Transactions on Industry Applications Donati Guerrieri, Simona; Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni Simulation of cyclostationary noise in semiconductor devices Konferenzberichte Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via DOI) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. SPIE, 2004 Erschienen in: SPIE Proceedings Guerrieri, Simona Donati; Ramella, Chiara; Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni Efficient Sensitivity and Variability Analysis of Nonlinear Microwave Stages Through Concurrent TCAD and EM Modeling Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2019 Erschienen in: IEEE Journal on Multiscale and Multiphysics Computational Techniques Hometcovschi, Dorel; Ghione, Giovanni; Naldi, Carlo; Oprea, Radu Corrections to “Analytic Determination of the Capacitance Matrix of Planar or Cylindrical Multiconductor Lines on Multilayered Substrates” [Feb 95 363-373] Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2018 Erschienen in: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques Bughio, Ahsin Murtaza; Donati Guerrieri, Simona; Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni Variability of FinFET AC parameters: A physics‐based insight Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Wiley, 2018 Erschienen in: International Journal of Numerical Modelling: Electronic Networks, Devices and Fields Vallone, Marco; Goano, Michele; Bertazzi, Francesco; Ghione, Giovanni Carrier capture in InGaN/GaN quantum wells: Role of electron-electron scattering Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. AIP Publishing, 2017 Erschienen in: Journal of Applied Physics Quaglia, Roberto; Camarchia, Vittorio; Pirola, Marco; Ghione, Giovanni GaN Monolithic Power Amplifiers for Microwave Backhaul Applications Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. MDPI AG, 2016 Erschienen in: Electronics Bertazzi, Francesco; Camarchia, Vittorio; Goano, Michele; Pirola, Marco; Ghione, Giovanni Modeling the Conductor Losses of Thick Multiconductor Coplanar Waveguides and Striplines: A Conformal Mapping Approach Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2016 Erschienen in: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
Ghione, Giovanni Kudos To Our Reviewers Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2015 Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices
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Ghione, Giovanni Kudos to Our Reviewers Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2016 Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices
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Ghione, Giovanni An efficient, CAD-oriented model for the characteristic parameters of multiconductor buses in high-speed digital GaAs ICs Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Springer Science and Business Media LLC, 1994 Erschienen in: Analog Integrated Circuits and Signal Processing
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Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni On the application of the Kirchhoff transformation to the steady-state thermal analysis of semiconductor devices with temperature-dependent and piecewise inhomogeneous thermal conductivity Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Elsevier BV, 1995 Erschienen in: Solid-State Electronics
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Ghione, Giovanni; Naldi, Carlo Comments on "Capacitance Bebetween Perpendicular Conducting Planes Separated by a Gap" Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 1987 Erschienen in: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
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Piacibello, Anna; Pirola, Marco; Ghione, Giovanni Generalized Symmetrical 3 dB Power Dividers With Complex Termination Impedances Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2020 Erschienen in: IEEE Access
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Donati Guerrieri, Simona; Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni Large-signal variability of microwave power amplifiers through efficient device sensitivity-based physical modeling : Guerrieri : Guerrieri Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Hindawi Limited, 2017 Erschienen in: International Journal of RF and Microwave Computer-Aided Engineering
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Furno, Mauro; Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni Novel TCAD-Oriented Definition of the off-State Breakdown Voltage in Schottky-Gate FETs: A 4H–SiC MESFET Case Study Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2008 Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices
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Malagoni Buiatti, Gustavo; Cappelluti, Federica; Ghione, Giovanni Physics-Based PiN Diode SPICE Model for Power-Circuit Simulation Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2007 Erschienen in: IEEE Transactions on Industry Applications
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Donati Guerrieri, Simona; Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni Simulation of cyclostationary noise in semiconductor devices Konferenzberichte Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via DOI) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. SPIE, 2004 Erschienen in: SPIE Proceedings
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Guerrieri, Simona Donati; Ramella, Chiara; Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni Efficient Sensitivity and Variability Analysis of Nonlinear Microwave Stages Through Concurrent TCAD and EM Modeling Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2019 Erschienen in: IEEE Journal on Multiscale and Multiphysics Computational Techniques
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Hometcovschi, Dorel; Ghione, Giovanni; Naldi, Carlo; Oprea, Radu Corrections to “Analytic Determination of the Capacitance Matrix of Planar or Cylindrical Multiconductor Lines on Multilayered Substrates” [Feb 95 363-373] Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2018 Erschienen in: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
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Bughio, Ahsin Murtaza; Donati Guerrieri, Simona; Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni Variability of FinFET AC parameters: A physics‐based insight Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Wiley, 2018 Erschienen in: International Journal of Numerical Modelling: Electronic Networks, Devices and Fields
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Vallone, Marco; Goano, Michele; Bertazzi, Francesco; Ghione, Giovanni Carrier capture in InGaN/GaN quantum wells: Role of electron-electron scattering Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. AIP Publishing, 2017 Erschienen in: Journal of Applied Physics
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Quaglia, Roberto; Camarchia, Vittorio; Pirola, Marco; Ghione, Giovanni GaN Monolithic Power Amplifiers for Microwave Backhaul Applications Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. MDPI AG, 2016 Erschienen in: Electronics
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Bertazzi, Francesco; Camarchia, Vittorio; Goano, Michele; Pirola, Marco; Ghione, Giovanni Modeling the Conductor Losses of Thick Multiconductor Coplanar Waveguides and Striplines: A Conformal Mapping Approach Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2016 Erschienen in: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
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> Medientyp Skip to next facet Aufsätze (100) Wert ausschließen Konferenzberichte (6) Wert ausschließen Audios (3) Wert ausschließen Bücher (2) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Verfügbarkeit Skip to next facet Freihand verfügbar (2) Wert ausschließen Magazinbestellung (3) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Standort Skip to next facet Zentralbibliothek (3) Wert ausschließen Bereichsbibliothek DrePunct (2) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Zugangsstatus Skip to next facet Freier Zugang (15) Wert ausschließen Ohne Angabe (91) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Sprache Skip to next facet Nicht zu entscheiden (57) Wert ausschließen Englisch (51) Wert ausschließen Italienisch (2) Wert ausschließen Deutsch (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Fachgebiet Skip to next facet Technik (74) Wert ausschließen Physik (73) Wert ausschließen Mathematik (70) Wert ausschließen Chemie und Pharmazie (12) Wert ausschließen Informatik (8) Wert ausschließen Biologie (6) Wert ausschließen Medizin (4) Wert ausschließen Allgemeines (2) Wert ausschließen Psychologie (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Person/Institution Skip to next facet Ghione, Giovanni (101) Wert ausschließen Bertazzi, Francesco (36) Wert ausschließen Goano, Michele (34) Wert ausschließen Vallone, Marco (24) Wert ausschließen Pirola, Marco (21) Wert ausschließen Bonani, Fabrizio (19) Wert ausschließen Camarchia, Vittorio (15) Wert ausschließen Bellotti, Enrico (12) Wert ausschließen Cappelluti, Federica (11) Wert ausschließen Figgemeier, Heinrich (11) Wert ausschließen Hanna, Stefan (11) Wert ausschließen Tibaldi, Alberto (11) Wert ausschließen Quaglia, Roberto (10) Wert ausschließen Guerrieri, Simona Donati (9) Wert ausschließen Donati Guerrieri, Simona (8) Wert ausschließen Eich, Detlef (8) Wert ausschließen Calciati, Marco (7) Wert ausschließen Meneghesso, Gaudenzio (6) Wert ausschließen Zhou, Xiangyu (6) Wert ausschließen Meneghini, Matteo (5) Wert ausschließen Verzellesi, Giovanni (5) Wert ausschließen Zanoni, Enrico (5) Wert ausschließen Fang, Jie (4) Wert ausschließen Mandurrino, Marco (4) Wert ausschließen Alasio, Matteo G. C. (3) Wert ausschließen Brennan, Kevin F. (3) Wert ausschließen Ghillino, Enrico (3) Wert ausschließen Ghione, Franco (3) Wert ausschließen Ghomashi, Mohammadamin (3) Wert ausschließen Palmieri, Andrea (3) Wert ausschließen Ramella, Chiara (3) Wert ausschließen Schirmacher, Wilhelm (3) Wert ausschließen Teatro alla Scala Orchestra (3) Wert ausschließen Wegmann, Anne (3) Wert ausschließen Ciccognani, Walter (2) Wert ausschließen Colantonio, Paolo (2) Wert ausschließen Conte, Gabriele (2) Wert ausschließen Debernardi, Pierluigi (2) Wert ausschließen Furno, Mauro (2) Wert ausschließen Garetto, Carlo (2) Wert ausschließen Ghione, Paola (2) Wert ausschließen Ghione, Sergio (2) Wert ausschließen Giannini, Franco (2) Wert ausschließen Gigli, Beniamino (2) Wert ausschließen Limiti, Ernesto (2) Wert ausschließen Mateos, Javier (2) Wert ausschließen Moreno, Jorge (2) Wert ausschließen Naldi, Carlo (2) Wert ausschließen Piazzon, Luca (2) Wert ausschließen Sieck, Alexander (2) Wert ausschließen Traversa, Fabio Lorenzo (2) Wert ausschließen Trivellin, Nicola (2) Wert ausschließen Verdi, Giuseppe (2) Wert ausschließen Zhu, Dandan (2) Wert ausschließen Abrisqueta, Pau (1) Wert ausschließen Adams, Donald (1) Wert ausschließen Ahn, Inhye (1) Wert ausschließen Alam, Syed M. (1) Wert ausschließen Alfayate, Ana (1) Wert ausschließen Allan, John N. (1) Wert ausschließen Alonso, Rosalia (1) Wert ausschließen Andreu, Rafa (1) Wert ausschließen Andrieu, Francois (1) Wert ausschließen Angelini, Annamaria (1) Wert ausschließen Antic, Darko (1) Wert ausschließen Arca, Marcello (1) Wert ausschließen BONSIGNORE, Giovanni (1) Wert ausschließen Bahl, Mayank (1) Wert ausschließen Baile, Mónica (1) Wert ausschließen Bailey, Neil (1) Wert ausschließen Baltasar, Patricia (1) Wert ausschließen Barez Garcia, Abelardo (1) Wert ausschließen Barr, Paul M. (1) Wert ausschließen Basiola, Mario (1) Wert ausschließen Bellone, Pietro (1) Wert ausschließen Benfari, Giovanni (1) Wert ausschließen Bergamasco, Laura (1) Wert ausschließen Bermak, Amine (1) Wert ausschließen Berra, Sergio (1) Wert ausschließen Bhavsar, Erica B (1) Wert ausschließen Bianchi, Caterina Chiara (1) Wert ausschließen Björling, Jussi (1) Wert ausschließen Borgonovo, Luigi (1) Wert ausschließen Bosch, Francesc (1) Wert ausschließen Botta, Marco (1) Wert ausschließen Botto, Barbara (1) Wert ausschließen Brander, Danielle M. (1) Wert ausschließen Bron, Dominique (1) Wert ausschließen Broom, Angus (1) Wert ausschließen Brown, Jennifer R (1) Wert ausschließen Bucci, Marco (1) Wert ausschließen Bughio, Ahsin Murtaza (1) Wert ausschließen CIABATTI, Gionata (1) Wert ausschließen Cahay, Marc (1) Wert ausschließen Calabrò, Paolo (1) Wert ausschließen Cametti, Giovanni (1) Wert ausschließen Campanino, Pier Paolo (1) Wert ausschließen Caniglia, Maria (1) Wert ausschließen Capelluti, Federica (1) Wert ausschließen Caruso, Enrico (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Kollektion Skip to next facet Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (CrossRef) (49) Wert ausschließen Springer Science and Business Media LLC (CrossRef) (10) Wert ausschließen Wiley (CrossRef) (10) Wert ausschließen AIP Publishing (CrossRef) (7) Wert ausschließen SPIE (CrossRef) (6) Wert ausschließen Elsevier BV (CrossRef) (5) Wert ausschließen Verbunddaten SWB (5) Wert ausschließen Hindawi Limited (CrossRef) (3) Wert ausschließen Optica Publishing Group (CrossRef) (3) Wert ausschließen American Society of Hematology (CrossRef) (2) Wert ausschließen Cambridge University Press (CUP) (CrossRef) (2) Wert ausschließen MDPI AG (CrossRef) (2) Wert ausschließen American Physical Society (APS) (CrossRef) (1) Wert ausschließen Emerald (CrossRef) (1) Wert ausschließen IOP Publishing (CrossRef) (1) Wert ausschließen Japanese Society of Hypertension (CrossRef) (1) Wert ausschließen Ovid Technologies (Wolters Kluwer Health) (CrossRef) (1) Wert ausschließen Oxford University Press (OUP) (CrossRef) (1) Wert ausschließen Royal Society of Chemistry (RSC) (CrossRef) (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen