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  3. Kopf, Marlene [VerfasserIn] ; Korvink, J. G. [AkademischeR BetreuerIn]

    Langzeitstabilität der Innendrücke von Kavernen benachbarter MEMS-Sensoren auf Siliziumbasis

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    Karlsruhe: KIT Scientific Publishing, 2022

    Erschienen in: Schriften des Instituts für Mikrostrukturtechnik am Karlsruher Institut für Technologie / Hrsg.: Institut für Mikrostrukturtechnik ; 45

  6. DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE, German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE, DIN Deutsches Institut für Normung e. V., DIN German Institute for Standardization

    DIN EN IEC 62024-1 : Induktive Hochfrequenz-Bauelemente - Elektrische Eigenschaften und Messmethoden - Teil 1: Chipinduktivitäten im Nanohenry-Bereich (IEC 51/1441/CDV:2023); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 62024-1:2023 - [2023-10-00]

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    Berlin, Wien, Zürich: Beuth Verlag, 2023

    Erschienen in: DIN-Regelwerk- Deutsche Normen

  7. DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE, German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE, DIN Deutsches Institut für Normung e. V., DIN German Institute for Standardization

    DIN EN IEC 61280-2-8 : Prüfverfahren für Lichtwellenleiter-Kommunikationsuntersysteme - Teil 2-8: Digitale Systeme - Bestimmung von geringen Bitfehlerraten (BER) mit Hilfe von Q-Faktor Messungen (IEC 61280-2-8:2021); Deutsche Fassung EN IEC 61280-2-8:2021 - [2022-12-00]

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    Berlin, Wien, Zürich: Beuth Verlag, 2022

    Erschienen in: DIN-Regelwerk- Deutsche Normen

  8. DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE, German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE, DIN Deutsches Institut für Normung e. V., DIN German Institute for Standardization

    DIN EN IEC 62024-1 : Induktive Hochfrequenz-Bauelemente - Elektrische Eigenschaften und Messmethoden - Teil 1: Chipinduktivitäten im Nanohenry-Bereich (IEC 62024-1:2017); Deutsche Fassung EN IEC 62024-1:2018 - [2019-02-00]

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    Berlin, Wien, Zürich: Beuth Verlag, 2019

    Erschienen in: DIN-Regelwerk- Deutsche Normen

  9. DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE, German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE, DIN Deutsches Institut für Normung e. V., DIN German Institute for Standardization

    DIN EN 61280-2-12*VDE 0885-802-12 : Prüfverfahren für Lichtwellenleiter-Kommunikationssysteme - Teil 2-12: Digitale Systeme - Messungen von Augendiagrammen und des Q-Faktors mit einem Software-Triggerverfahren für die Qualitätsbewertung von Übertragungssignalen (IEC 61280-2-12:2014); Deutsche Fassung EN 61280-2-12:2014 - [2015-03-00]

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    Berlin, Wien, Zürich: Beuth Verlag, 2015

    Erschienen in: DIN-Regelwerk- Deutsche Normen

  11. Isermeyer, Leonie [VerfasserIn] ; Ilse, Benjamin [AkademischeR BetreuerIn]; Alt-epping, Bernd [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Raupach, Tobias [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Simmenroth, Anne [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Die Implementierung des Querschnittsbereichs 13 (Q13) Palliativmedizin - Realisierungswege in Anbetracht förderlicher und hinderlicher Faktoren aus Sicht der Lehrbeauftragten

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    Göttingen, 2017

  13. DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE, German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE, DIN Deutsches Institut für Normung e. V., DIN German Institute for Standardization

    DIN EN 61280-2-11 : Prüfverfahren für Lichtwellenleiter-Kommunikationsuntersysteme - Teil 2-11: Digitale Systeme - Bestimmung des mittleren Q-Faktors durch Auswertung des Amplitudenhistogramms zur Qualitätsüberwachung optischer Signale (IEC 61280-2-11:2006); Deutsche Fassung EN 61280-2-11:2006 - [2006-11-00]

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    Berlin, Wien, Zürich: Beuth Verlag, 2006

    Erschienen in: DIN-Regelwerk- Deutsche Normen