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Spieß, Lothar [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Schwarzer, Robert [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Behnken, Herfried [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Teichert, Gerd [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Moderne Röntgenbeugung : Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker - [1. Aufl.]

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Wiesbaden: Teubner, 2005

Erschienen in: Teubner Lehrbuch Physik
Massa, Werner [VerfasserIn] ; Gould, Robert O. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Crystal structure determination : with 13 tables - [2. completely updated ed.]

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2004
Chang, Shih-Lin [VerfasserIn]

X-ray multiple-wave diffraction : theory and application

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2004

Erschienen in: Springer series in solid-state sciences ; 143
Allmann, Rudolf [VerfasserIn]; Kern, Arnt [VerfasserIn]

Röntgenpulverdiffraktometrie : rechnergestützte Auswertung, Phasenanalyse und Strukturbestimmung - [2., korrgierte und erw. Aufl]

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2003
Ladd, M. F. C. [VerfasserIn]; Palmer, Rex A. [VerfasserIn]

Structure determination by X-ray crystallography - [4. ed.]

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New York [u.a.]: Kluwer Academic/Plenum Publishers, c 2003
Authier, André [VerfasserIn]

Dynamical theory of X-ray diffraction - [Reprint.]

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Oxford [u.a.]: Oxford Univ. Pr., 2002

Erschienen in: Internationale Union für Kristallographie: IUCr monographs on crystallography ; 11,2002
Massa, Werner [VerfasserIn]

Kristallstrukturbestimmung - [3., überarb. und aktualisierte Aufl.]

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Stuttgart [u.a.]: Teubner, 2002

Erschienen in: Teubner-Studienbücher ; Chemie
Authier, André [VerfasserIn]

Dynamical theory of X-ray diffraction

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Oxford [u.a.]: Oxford University Press, 2001

Erschienen in: Internationale Union für Kristallographie: IUCr monographs on crystallography ; 11
Cullity, B. D. [VerfasserIn]; Stock, Stuart R. [VerfasserIn]

Elements of X-ray diffraction - [3. ed.]

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Upper Saddle River, NJ: Prentice Hall, 2001
Krawitz, Aaron D. [VerfasserIn]

Introduction to diffraction in materials science and engineering

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New York; Chichester; Weinheim [u.a.]: Wiley, 2001

Erschienen in: A Wiley-Interscience publication
Massa, Werner [VerfasserIn]

Crystal structure determination : with 16 tables

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Berlin [u.a.]: Springer, 2000
Lifshin, Eric [HerausgeberIn]

X-ray characterization of materials

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Weinheim [u.a.]: Wiley-VCH, 1999
Bowen, David Keith [VerfasserIn]; Tanner, Brian K. [VerfasserIn]

High resolution X-ray diffractometry and topography

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London [u.a.]: Taylor & Francis, 1998
Kinne, Andreas [VerfasserIn]

Möglichkeiten und Grenzen des Einsatzes von Bildplattendetektoren in der Röntgendiffraktometrie

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1998
Woolfson, Michael M. [VerfasserIn]

An introduction to X-ray crystallography - [2. ed.]

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Cambridge [u.a.]: Cambridge Univ. Press, 1997
Coppens, Philip [VerfasserIn]

X-ray charge densities and chemical bonding

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Oxford [u.a.]: Oxford Univ. Press, 1997

Erschienen in: Texts on crystallography ; 4
Krivoglaz, Michail A. [VerfasserIn]

Diffuse scattering of X-rays and neutrons by fluctuations

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1996
Massa, Werner [VerfasserIn]

Kristallstrukturbestimmung - [2., überarb. Aufl.]

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Stuttgart: Teubner, 1996

Erschienen in: Teubner-Studienbücher ; Chemie
Krivoglaz, Michail A. [VerfasserIn]

X-ray and neutron diffraction in nonideal crystals

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1996
Eberhart, Jean P. [VerfasserIn]; Eberhart, Jean Pierre [VerfasserIn]

Structural and chemical analysis of materials : x-ray, electron and neutron diffraction ; x-ray, electron and ion spectrometry ; electron microscopy - [Reprinted]

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Chichester [u.a.]: Wiley, 1995

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