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  3. Krstić, Angela [VerfasserIn] ; Cheng, Kwang-Ting [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Delay fault testing for VLSI circuits

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    Boston, Mass; Dordrecht; London: Kluwer, 1998

    Erschienen in: Frontiers in electronic testing

  7. Institute of Electrical and Electronics Engineers, IEEE Computer Society, IEEE Computer Society Test Technology Technical Council

    2015 IEEE 33rd VLSI Test Symposium (VTS) : 27 - 29 April 2015, Napa, California (USA)

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    Piscataway, NJ: IEEE, 2015

  8. IEEE VLSI Test Symposium 36. 2018 San Francisco, Calif, Institute of Electrical and Electronics Engineers

    2018 IEEE 36th VLSI Test Symposium (VTS) : proceedings : April 22nd-25th, 2018, San Francisco, California (USA)

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    [Piscataway, NJ]: IEEE, 2018

  9. IEEE VLSI Test Symposium 35. 2017 Las Vegas, Nev, Institute of Electrical and Electronics Engineers, IEEE Computer Society, Institute of Electrical and Electronics Engineers Philadelphia Section, IEEE Computer Society Test Technology Technical Council

    2017 IEEE 35th VLSI Test Symposium (VTS) : VTS 2017 : April 9th-12th 2017, Las Vegas, Nevada (USA)

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    [Piscataway, NJ]: IEEE, 2017

  10. Song, Peilin [VeranstalterIn]; Tahoori, Mehdi [VeranstalterIn]; Traiola, Marcello [HerausgeberIn] ; IEEE VLSI Test Symposium 41. 2023 San Diego, Calif, Institute of Electrical and Electronics Engineers

    2023 IEEE 41st VLSI Test Symposium (VTS) : VTS 2023 : April 24th-26th, 2023, San Diego, CA, USA : proceedings

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    [Piscataway, NJ]: IEEE, 2023

  11. IEEE VLSI Test Symposium 40. 2022 San Diego, Calif, Institute of Electrical and Electronics Engineers

    2022 IEEE 40th VLSI Test Symposium (VTS) : VTS 2022 : April 25th-27th, 2022, virtual interactive live event : proceedings

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    Piscataway, NJ: IEEE, 2022

  12. Basio, Alberto [HerausgeberIn]; Basu, Kanad [HerausgeberIn] ; IEEE VLSI Test Symposium 39. 2021 Online, Institute of Electrical and Electronics Engineers

    2021 IEEE 39th VLSI Test Symposium (VTS) : VTS 2021 : April 26th-28th 2021 : virtual interactive live event : proceedings

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    Piscataway, NJ: IEEE, 2021

  13. Makris, Yiorgos [VeranstalterIn] ; IEEE VLSI Test Symposium 34. 2016 Las Vegas, Nev, Institute of Electrical and Electronics Engineers

    2016 IEEE 34th VLSI Test Symposium (VTS) - VTS 2016 : April 25th-27th 2016, Las Vegas, Nevada (USA) : proceedings

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    [Piscataway, NJ]: IEEE, 2016

  19. Rose, Jonathan [VerfasserIn] ; Association for Computing Machinery, ACM Special Interest Group on Design Automation

    Proceedings of the 1996 ACM fourth international symposium on Field-programmable gate arrays

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    New York, NY: ACM, 1996

    Erschienen in: ACM Digital Library- ACM Conferences