%0 Book
%T Die Alterung bei n-Kanal MOS-Transistoren unter dem Einfluß hochenergetischer Ladungsträger Der "Hot-Electron"-Effekt
%A Giebel, Thomas
%I VDI-Verl.
%@ 3181481092
%K Hochschulschrift
%K n-Kanal-FET
%K Alterung
%K Heißes Elektron
%D 1988
%X Literaturverz. S. 110 - 115
%C VDI-Verl.
%C Düsseldorf
%U http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
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