TY -
BOOK
AU - Im, Sung-Woo
TI -
Untersuchung von Mikrorissen bei Wechselbeanspruchung durch Laserinterferometrie
ET - Als Ms. gedr.
PB - VDI-Verl.
SN - 3181401056
KW - Mikroriss
KW - Dynamische Belastung
KW - Laserinterferometrie
PY - 1990
BT - Fortschrittberichte VDI ; Reihe 5, Grund- und Werkstoffe, Kunststoffe ; 201
CY - Düsseldorf
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -