TY -
GEN
AU - Rackwitz, Vanessa
TI -
Instrumentelle Fundamentalparameter und ausgewählte Anwendungen der Mikrofokus-Röntgenfluoreszenzanalyse am Rasterelektronenmikroskop
PB - Bundesanst. für Materialforschung und -prüfung (BAM)
SN - 9783981463446
KW - Hochschulschrift
KW - Röntgenfluoreszenzspektroskopie
KW - Rasterelektronenmikroskopie
PY - 2011
BT - BAM-Dissertationsreihe ; 81
CY - Berlin
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -