TY - GEN

AU - Băjenescu, Titu I.

AU - Springer Fachmedien Wiesbaden

AU - Springer Vieweg

TI - Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung

PB - Imprint: Springer Vieweg

SN - 9783658221782

KW - Electronics

KW - Microelectronics

KW - Power electronics

KW - Electronic circuits

KW - Elektronisches Bauelement

KW - Zuverlässigkeit

PY - [2020]

BT - Springer eBook Collection

CY - Wiesbaden

UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2

ER -