TY - BOOK
AU - Bigalke, Steve
AU - Technische Universität Dresden
TI - Erhöhung der Elektromigrationsrobustheit in der Verdrahtung digitaler Schaltungen
ET - Als Manuskript gedruckt
PB - VDI-Verlag GmbH
PB - : Technische Universität Dresden, Institut für Feinwerktechnik und Elektronik-Design
SN - 9783183472208
KW - Hochschulschrift
KW - Digitalschaltung
KW - Layout Mikroelektronik
KW - Elektromigration
KW - Verdrahtung
KW - Leiterbahn
KW - Durchkontaktieren
KW - Robustheit
KW - Zuverlässigkeit
KW - Entwurfsautomation
PY - [2020]
PY - , [2020]
PY - , © 2020
BT - VDI Fortschritt-Berichte ; Reihe 20, Rechnerunterstützte Verfahren ; Nr. 472
CY - Düsseldorf
CY - ; Dresden
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -
Download citation