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Book
%T
Semiconductor memories
technology, testing, and reliability
%A Sharma, Ashok K.
%I IEEE Press
%@ 0780310004
%K Semiconductor storage devices
%K Halbleiterspeicher
%D 1997
%X Literaturangaben
%C IEEE Press
%C Piscataway, NJ
%U http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2