TY - BOOK
AU - Thiele, Matthias
TI - Elektromigration und deren Berücksichtigung beim zukünftigen Layoutentwurf digitaler Schaltungen
ET - Als Manuskript gedruckt
PB - VDI Verlag GmbH
SN - 9783183395095
KW - Hochschulschrift
KW - Entwurfsautomation
KW - Digitale integrierte Schaltung
KW - Verdrahtung
KW - Leiterbahn
KW - Miniaturisierung
KW - Elektromigration
KW - Robustheit
KW - Elektrische Stromdichte
KW - Finite-Elemente-Methode
KW - Kohlenstoff-Nanoröhre
PY - [2017]
BT - Fortschritt-Berichte VDI. Reihe 9, Elektronik/Mikro- und Nanotechnik ; Nr. 395
CY - Düsseldorf
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -
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