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TI - Reliability of AlGaN/GaN high electron mobility transistors on low dislocation density bulk GaN substrate: Implications of surface step edges
PB - AIP Publishing
SN - 0003-6951
SN - 1077-3118
KW - Physics and Astronomy (miscellaneous)
PY - 2013
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -
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