TY - GEN
AU - Tapajna, M.
AU - Killat, N.
AU - Moereke, J.
AU - Paskova, T.
AU - Evans, K. R.
AU - Leach, J.
AU - Li, X.
AU - Ozgur, Ü
AU - Morkoc, H.
AU - Chabak, K. D.
AU - Crespo, A.
AU - Gillespie, J. K.
AU - Fitch, R.
AU - Kossler, M.
AU - Walker, D. E.
AU - Trejo, M.
AU - Via, G. D.
AU - Blevins, J. D.
AU - Kuball, M.
TI - Non-Arrhenius Degradation of AlGaN/GaN HEMTs Grown on Bulk GaN Substrates
PB - IEEE
SN - 0741-3106
SN - 1558-0563
KW - Gallium nitride
KW - HEMTs
KW - MODFETs
KW - Degradation
KW - Logic gates
KW - Aluminum gallium nitride
KW - Substrates
KW - reliability
KW - AlGaN/GaN HEMT
KW - bulk GaN
KW - electrical stress
KW - electroluminescence (EL)
PY - 2012
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -
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