Zum Inhalt springen

  1. Nakagawa, Toshio [VerfasserIn]

    Maintenance theory of reliability

    Bücher
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    London [Heidelberg]: Springer, 2005

    Erschienen in: Springer series in reliability engineering

  2. Pham, Hoang [HerausgeberIn] ; International Society of Science and Applied Technologies

    Recent advances in reliability and quality in design

    Bücher
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    London: Springer, 2008

    Erschienen in: Springer series in reliability engineering

  3. Hartzell, Allyson L. [VerfasserIn]; Da Silva, Mark G. [VerfasserIn]; Shea, Herbert R. [VerfasserIn]

    MEMS reliability

    Bücher
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    New York, NY; Heidelberg [u.a.]: Springer, c2011

    Erschienen in: MEMS reference shelf

  4. Gercbach, Ilʹja B. [VerfasserIn]; Kordonskij, Chaim B. [VerfasserIn]

    Models of failure

    Bücher
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Berlin [u.a.]: Springer, 1969

    Erschienen in: Ingenieurwissenschaftliche Bibliothek

  5. Dhillon, Balbir S. [VerfasserIn]; Reiche, Hans [VerfasserIn]

    Reliability and maintainability management

    Bücher
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    New York [u.a.]: Van Nostrand Reinhold, 1985

  6. Woschni, Eugen-Georg [VerfasserIn]

    Näherungsbetrachtungen contra Computerlösungen? : Ein Beitrag zur Diskussion über Lehrinhalte ; [Vortrag gehalten auf der Plenarsitzung der Sächsischen Akademie der Wissenschaften zu Leipzig, am 13.1.2012]

    Bücher
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Stuttgart; Leipzig: Hirzel, 2012 ; Leipzig: Sächsische Akad. der Wiss., 2012

    Erschienen in: Sächsische Akademie der Wissenschaften zu Leipzig: Sitzungsberichte der Sächsischen Akademie der Wissenschaften zu Leipzig, Technikwissenschaftliche Klasse ; 306

  7. Rathore, Hazara S. [HerausgeberIn]; Mathad, G. S. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Symposium on Reliability of Semiconductor Devices-Interconnections and Dielectric Breakdown 1991 Phoenix, Ariz., Electrochemical Society, Electrochemical Society Dielectric Science and Technology Division, Electrochemical Society Electronics Division, Symposium on Laser Process for Microelectronic Applications 1991 Phoenix, Ariz.

    Proceedings of the Symposia on Reliability of Semiconductor Devices-Interconnections and Dielectric Breakdown and Laser Process for Microelectronic Applications : [... joint volume of conference papers]

    Bücher
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Pennington, NJ: Electrochemical Society, 1992

    Erschienen in: Electrochemical Society: Proceedings volume / Electrochemical Society ; 92,4

  8. Cannon, A. G. [HerausgeberIn]

    Reliability data banks

    Bücher
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    London [u.a.]: Elsevier Applied Science, 1991

  9. Høyland, Arnljot [VerfasserIn]; Rausand, Marvin [VerfasserIn]

    System reliability theory : models and statistical methods - [ 2. print. ]

    Bücher
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    New York [u.a.]: Wiley, c1994

    Erschienen in: Wiley series in probability and mathematical statistics ; Applied probability and statistics section- A Wiley-Interscience publication