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O'Connor, Patrick D. T. [VerfasserIn]

Zuverlässigkeitstechnik : Grundlagen und Anwendungen

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Weinheim: VCH-Verl.-Ges., 1990
Bitter, Peter [BearbeiterIn] ; Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH Ottobrunn

Technische Zuverlässigkeit : Problematik, math. Grundlagen, Untersuchungsmethoden, Anwendungen - [3., neubearb. u. erw. Aufl.]

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1986
Dhillon, Balbir S. [VerfasserIn]; Reiche, Hans [VerfasserIn]

Reliability and maintainability management

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New York [u.a.]: Van Nostrand Reinhold, 1985
Kaplun, Solomon Mendeleevič [VerfasserIn]

Optimizacija nadežnosti ėnergoustanovok

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Novosibirsk: Izdatel'stvo Nauka, 1982
Höfle-Isphording, Ute [VerfasserIn]

Zuverlässigkeitsrechnung : Einführung in ihre Methoden

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1978
Finkelʹštejn, E. Ja [HerausgeberIn] ; Akademija Nauk Latvijskoj SSR

Kontrolʹ nadežnosti ėlementov i sistem avtomatiki

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Riga: Izd. "Zinatne", 1976
Mann, Nancy R. [VerfasserIn]; Schafer, Ray E. [VerfasserIn]; Singpurwalla, Nozer D. [VerfasserIn]

Methods for statistical analysis of reliability and life data

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New York [u.a.]: Wiley, 1974

Erschienen in: Wiley series in probability and mathematical statistics ; Applied probability and statistics- Wiley series in probability and mathematical statistics
Schneeweiss, Winfrid G. [VerfasserIn]

Zuverlässigkeitstheorie : eine Einführung über Mittelwerte von binären Zufallsprozessen

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1973
Gercbach, Ilʹja B. [VerfasserIn] ; Kordonskij, Chaim B. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Gercbach, Il'ja Boruchovič [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Models of failure

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Berlin, Heidelberg, New York: Springer, 1969

Erschienen in: Ingenieurwissenschaftliche Bibliothek
Klemin, Aleksej I. [VerfasserIn]; Strigulin, Mitrofan M. [VerfasserIn]

Nekotorye voprosy nadežnosti jadernych reaktorov

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Moskva: Atomizdat, 1968
Gorskij, Lev Konstantinovič [VerfasserIn]

Statističeskie algoritmy issledovanija nadežnosti

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Moskva: Izd. Nauka, 1970

Erschienen in: Teoretičeskie osnovy techničeskoj kibernetiki
Bitter, Peter [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH Ottobrunn

Technische Zuverlässigkeit : Problematik, mathematische Grundlagen, Untersuchungsmethoden

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1971
Woschni, Eugen-Georg [VerfasserIn]

Näherungsbetrachtungen contra Computerlösungen? : Ein Beitrag zur Diskussion über Lehrinhalte ; [Vortrag gehalten auf der Plenarsitzung der Sächsischen Akademie der Wissenschaften zu Leipzig, am 13.1.2012]

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Stuttgart; Leipzig: Hirzel, 2012 ; Leipzig: Sächsische Akad. der Wiss., 2012

Erschienen in: Sächsische Akademie der Wissenschaften zu Leipzig: Sitzungsberichte der Sächsischen Akademie der Wissenschaften zu Leipzig, Technikwissenschaftliche Klasse ; 306
Høyland, Arnljot [VerfasserIn]; Rausand, Marvin [VerfasserIn]

System reliability theory : models and statistical methods - [2. print.]

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New York [u.a.]: Wiley, c1994

Erschienen in: Wiley series in probability and mathematical statistics ; Applied probability and statistics section- A Wiley-Interscience publication
Rathore, Hazara S. [HerausgeberIn]; Mathad, G. S. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Symposium on Reliability of Semiconductor Devices-Interconnections and Dielectric Breakdown 1991 Phoenix, Ariz, Electrochemical Society, Electrochemical Society Dielectric Science and Technology Division, Electrochemical Society Electronics Division, Symposium on Laser Process for Microelectronic Applications 1991 Phoenix, Ariz

Proceedings of the Symposia on Reliability of Semiconductor Devices-Interconnections and Dielectric Breakdown and Laser Process for Microelectronic Applications : [... joint volume of conference papers]

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Pennington, NJ: Electrochemical Society, 1992

Erschienen in: Electrochemical Society: Proceedings volume ; 92,4
Ravichandran, N. [VerfasserIn]

Stochastic methods in reliability theory

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New York [u.a.]: Wiley, 1990
Goble, William M. [VerfasserIn]

Control systems safety evaluation and reliability - [3. ed.]

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Research Triangle Park, NC: International Society of Automation, 2010

Erschienen in: ISA resources for measurement and control series
Strong, Alvin W. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies

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Hoboken, N.J.: Wiley [u.a.], 2009

Erschienen in: IEEE Press Series on Microelectronic Systems
Hattangadi, A. A. [VerfasserIn]

Failure prevention of plant and machinery

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New Dehli [u.a.]: Tata McGraw-Hill, 2004
Yang, Wei [VerfasserIn]

Mechatronic reliability : electric failures, mechanical-electrical coupling, domain switching, mass-flow instabilities ; with 9 tables

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2002

Erschienen in: Engineering online library

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