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  1. Gan, Zhenghao [VerfasserIn]; Wong, Waisum [VerfasserIn]; Liou, Juin J. [VerfasserIn]

    Semiconductor process reliability in practice

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    New York [u.a.]: McGraw-Hill, 2013

  2. Amersekera, E. A. [VerfasserIn]; Campbell, D. S. [VerfasserIn]

    Failure mechanisms in semiconductor devices

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    Chichester [u.a.]: Wiley, 1987

  3. Rathore, Hazara S. [HerausgeberIn]; Mathad, G. S. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Symposium on Reliability of Semiconductor Devices-Interconnections and Dielectric Breakdown 1991 Phoenix, Ariz, Electrochemical Society, Electrochemical Society Dielectric Science and Technology Division, Electrochemical Society Electronics Division, Symposium on Laser Process for Microelectronic Applications 1991 Phoenix, Ariz

    Proceedings of the Symposia on Reliability of Semiconductor Devices-Interconnections and Dielectric Breakdown and Laser Process for Microelectronic Applications : [... joint volume of conference papers]

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    Pennington, NJ: Electrochemical Society, 1992

    Erschienen in: Electrochemical Society: Proceedings volume ; 92,4

  4. Voldman, Steven H. [VerfasserIn]

    Latchup in semiconductor technology

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    Chichester [u.a.]: Wiley, 2007

  5. Pecht, Michael [VerfasserIn]; Radojcic, Riko [VerfasserIn]; Rao, Gopal K. [VerfasserIn]

    Guidebook for managing silicon chip reliability

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    Boca Raton, Fla. [u.a.]: CRC Press, 1999

    Erschienen in: The electronic packaging series

  6. McKerrow, Andrew J. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Symposium Materials, Technology and Reliability for Advanced Interconnects and Low k Dielectrics 2003 San Francisco, Calif

    Materials, technology and reliability for advanced interconnects and low-k dielectrics : symposium held April 21 - 25, 2003, San Francisco, California, U.S.A. ; [Symposium E, held at the 2003 MRS spring meeting]

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    Warrendale, Pa.: Materials Research Society, 2003

    Erschienen in: Materials Research Society: Materials Research Society symposium proceedings ; 76600

  7. Christou, Aris [HerausgeberIn]; Unger, B. A. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Advanced Research Workshop on Semiconductor Device Reliability 1989 Heraklion

    Semiconductor device reliability : [proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Semiconductor Device Reliability, Heraklio, Crete, Greece, June 4 - 9, 1989]

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    Dordrecht [u.a.]: Kluwer Academic, 1990

    Erschienen in: NATO: NATO ASI series / E ; 175