Zum Inhalt springen

  1. Wunderlich, Hans-Joachim [VerfasserIn]; Ströle, Albrecht P. [VerfasserIn]

    Maximizing the fault coverage in complex circuits by minimal number of signatures

    Bücher
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    1991 ; Online-Ausg.: Stuttgart: Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart, 2012

  2. Ströle, Albrecht P. [VerfasserIn]; Wunderlich, Hans-Joachim [VerfasserIn]

    TESTCHIP: a chip for weighted random pattern generation, evaluation, and test control

    Bücher
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    1991 ; Online-Ausg.: Stuttgart: Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart, 2012

  3. Ströle, Albrecht P. [VerfasserIn]; Wunderlich, Hans-Joachim [VerfasserIn]; Haberl, Oliver [VerfasserIn]

    TESTCHIP: a chip for weighted random pattern generation, evaluation, and test control

    Bücher
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    1990 ; Online-Ausg.: Stuttgart: Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart, 2012

  4. Kesel, Frank [VerfasserIn]; Wunderlich, Hans-Joachim [VerfasserIn]

    Automatische Synthese selbsttestbarer Moduln für hochkomplexe Schaltungen

    Bücher
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    1989 ; Online-Ausg.: Stuttgart: Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart, 2012

  5. Ranney, Kenneth I. [HerausgeberIn] ; Radar Sensor Technology Veranstaltung 2015 Baltimore, Md, SPIE, SPIE, Active and Passive Signatures Veranstaltung 2015 Baltimore, Md

    Radar Sensor Technology XIX, and Active and Passive Signatures VI : 20-23 April 2015, Baltimore, Maryland, United States

    Bücher
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2015]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 9461

  6. Katschan, Igor [VerfasserIn]; Mikitiuk, Viatcheslav [VerfasserIn]; Ströle, Albrecht [VerfasserIn]; Yarmolik, Viatcheslav [VerfasserIn]

    Berechnung der exakten Fehlererfassung beim Test mit Signaturanalyse

    Aufsätze
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    KITopen (Karlsruhe Institute of Technologie), 2008-01-16