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  1. Bhushan, Bharat [HerausgeberIn]

    Applied scanning probe methods

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    Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2004-2009

    Erschienen in: NanoScience and technology

  2. Meyer, Ernst [VerfasserIn]; Hug, Hans Josef [VerfasserIn]; Bennewitz, Roland [VerfasserIn]

    Scanning probe microscopy : the lab on a tip

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    Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2004

    Erschienen in: Advanced texts in physics- Physics and astronomy online library

  3. Wiesendanger, Roland [HerausgeberIn]

    Scanning probe microscopy : analytical methods

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    Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1998

    Erschienen in: NanoScience and technology

  4. Paesler, Michael [VerfasserIn] ; Moyer, Patrick J. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Paesler, Michael [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Near-field optics : theory, instrumentation, and applications

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    New York; Weinheim [u.a.]: Wiley, 1996

    Erschienen in: A Wiley Interscience publication

  5. Schönherr, Holger [VerfasserIn] ; Vancso, G. Julius [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Scanning force microscopy of polymers : with 1 table

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    Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2010

    Erschienen in: Springer laboratory manuals in polymer science- Springer laboratory