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Bennett, Dennis W. [VerfasserIn]

Understanding single-crystal X-ray crystallography

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Weinheim: Wiley-VCH-Verl., 2010
Clegg, William [HerausgeberIn]; Blake, Alexander [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Cole, Jacqueline M. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Crystal structure analysis : principles and practice - [2. ed.]

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Oxford [u.a.]: Oxford Univ. Press, 2009

Erschienen in: Texts on crystallography ; 13
Pecharsky, Vitalij K. [VerfasserIn]; Zavalij, Peter Y. [VerfasserIn]

Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials - [2. ed.]

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New York, NY: Springer, 2009
Spieß, Lothar [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Moderne Röntgenbeugung : Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker - [2., überarb. und erw. Aufl.]

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Wiesbaden: Vieweg + Teubner, 2009

Erschienen in: Studium
Dinnebier, Robert E. [HerausgeberIn]

Powder diffraction : theory and practice - [Repr.]

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Cambridge: Royal Society of Chemistry, 2009
Williams, David B. [VerfasserIn]; Carter, C. Barry [VerfasserIn]

Transmission electron microscopy : a textbook for materials science - [2. ed.]

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New York: Springer, 2009
Müller, Peter [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Crystal structure refinement : a crystallographer's guide to SHELXL - [Reprint]

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Oxford [u.a.]: Oxford University Press, 2008

Erschienen in: Texts on crystallography ; 8,2008
Stokes, Debbie J. [VerfasserIn]

Principles and practice of variable pressure/environmental scanning electron microscopy (VP-ESEM)

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Chichester: Wiley, 2008
Stribeck, Norbert [VerfasserIn]

X-ray scattering of soft matter : with 6 tables

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2007

Erschienen in: Springer laboratory manuals in polymer science
David, William I.F [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; David, William I. F. [HerausgeberIn]

Structure determination from powder diffraction data - [Paperback ed.]

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Oxford [u.a.]: Oxford Univ. Press, 2006

Erschienen in: Internationale Union für Kristallographie: IUCr monographs on crystallography ; 13,2006
Pecharsky, Vitalij K. [VerfasserIn] ; Zavalij, Peter Y. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials

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New York, NY: Springer, 2005
Spieß, Lothar [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Schwarzer, Robert [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Behnken, Herfried [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Teichert, Gerd [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Moderne Röntgenbeugung : Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker - [1. Aufl.]

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Wiesbaden: Teubner, 2005

Erschienen in: Teubner Lehrbuch Physik
Tsuji, Kōichi [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Tsuji, Kouichi [HerausgeberIn]

X-ray spectrometry : recent technological advances - [Reprint.]

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Chichester; Weinheim [u.a.]: Wiley, 2005
Massa, Werner [VerfasserIn] ; Gould, Robert O. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Crystal structure determination : with 13 tables - [2. completely updated ed.]

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2004
Mittemeijer, Eric J. [HerausgeberIn]; Scardi, Paolo [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Diffraction analysis of the microstructure of materials

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2004

Erschienen in: Springer series in materials science ; 68
Welberry, Thomas R. [VerfasserIn] ; Internationale Union für Kristallographie

Diffuse x-ray scattering and models of disorder

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Oxford [u.a.]: Oxford Univ. Press, 2004

Erschienen in: Internationale Union für Kristallographie: IUCr monographs on crystallography ; 16
Peng, Lian-mao [VerfasserIn] ; Dudarev, Sergej L. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Whelan, M. J. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

High-energy electron diffraction and microscopy

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Oxford [u.a.]: Oxford Univ. Press, 2004

Erschienen in: Monographs on the physics and chemistry of materials ; 61
Fultz, Brent [VerfasserIn]; Howe, James M. [VerfasserIn]

Transmission electron microscopy and diffractometry of materials : with numerous exercises - [2. ed., corr. 2. print.]

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, [2004]

Erschienen in: Physics and astronomy online library
Allmann, Rudolf [VerfasserIn]; Kern, Arnt [VerfasserIn]

Röntgenpulverdiffraktometrie : rechnergestützte Auswertung, Phasenanalyse und Strukturbestimmung - [2., korrgierte und erw. Aufl]

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2003
Ladd, M. F. C. [VerfasserIn]; Palmer, Rex A. [VerfasserIn]

Structure determination by X-ray crystallography - [4. ed.]

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New York [u.a.]: Kluwer Academic/Plenum Publishers, c 2003

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