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  1. Gan, Zhenghao [VerfasserIn]; Wong, Waisum [VerfasserIn]; Liou, Juin J. [VerfasserIn]

    Semiconductor process reliability in practice

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    New York [u.a.]: McGraw-Hill, 2013

  2. Zheng, Wenzhuo; Zhao, Junhao; Liu, Xiaohong; Pan, Yongyang; Gan, Zhenghao; Han, Haozhe; Liu, Ning

    Advances in Computer Graphics: FLAME-Based Multi-view 3D Face Reconstruction

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    Springer Nature Switzerland, 2024

    Erschienen in: Advances in Computer Graphics