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  2. Lanza, Mario [VerfasserIn]; Waser, R. [VerfasserIn]; Wiefels, Stefan [VerfasserIn]; Menzel, Stephan [VerfasserIn]; Valov, Ilia [VerfasserIn]; Villena, Marco A. [VerfasserIn]; Miranda, Enrique [VerfasserIn]; Jing, Xu [VerfasserIn]; Campabadal, Francesca [VerfasserIn]; Gonzalez, Mireia B. [VerfasserIn]; Aguirre, Fernando [VerfasserIn]; Palumbo, Felix [VerfasserIn]; Ielmini, Daniele [VerfasserIn]; Zhu, Kaichen [VerfasserIn]; Roldan, Juan Bautista [VerfasserIn]; Puglisi, Francesco Maria [VerfasserIn]; Larcher, Luca [VerfasserIn]; Hou, Tuo-Hung [VerfasserIn]; Prodromakis, Themis [VerfasserIn]; Yang, Yuchao [VerfasserIn]; Huang, Peng [VerfasserIn]; Wan, Tianqing [VerfasserIn]; Chai, Yang [VerfasserIn]; Yang, Jie [VerfasserIn]; [...]

    Standards for the Characterization of Endurance in Resistive Switching Devices

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    Soc., 2021

    Erschienen in: ACS nano 15(11), 17214 - 17231 (2021). doi:10.1021/acsnano.1c06980

  6. Gärtner, Peter; Waser, Mario

    Happy birthday Heinz Falk

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    Springer Science and Business Media LLC, 2019

    Erschienen in: Monatshefte für Chemie - Chemical Monthly