Zum Inhalt springen

Sharma, Renu [VerfasserIn] ; Wiley-VCH

In-Situ transmission electron microscopy experiments : design and practice

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

Weinheim: Wiley-VCH, [2023]
Kern, Felix Lucas [VerfasserIn] ; Büchner, Bernd [AkademischeR BetreuerIn]; Verbeeck, Johan [AkademischeR BetreuerIn] Technische Universität Dresden

Miniaturized electron optics based on self-assembled micro coils

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

Dresden, [2022?]
Kühne, Tim [VerfasserIn] ; Cuniberti, Gianaurelio [AkademischeR BetreuerIn]; Joachim, Christian [AkademischeR BetreuerIn] Technische Universität Dresden

Inelastic STM as a tool for the electronic manipulation of single molecules

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

Dresden, 2021
Müller, Falk [VerfasserIn] ; Wallstein-Verlag

Jenseits des Lichts : Siemens, AEG und die Anfänge der Elektronenmikroskopie in Deutschland

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

Göttingen: Wallstein Verlag, [2021]

Erschienen in: Deutsches Museum von Meisterwerken der Naturwissenschaft und Technik: Abhandlungen und Berichte / Deutsches Museum ; NF,35
Sedighi, Mona [VerfasserIn] ; Zschech, Ehrenfried [AkademischeR BetreuerIn]; Reineke, Sebastian [AkademischeR BetreuerIn] Technische Universität Dresden

Revealing the morphology of small molecule organic solar cell by electron microscopy

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

Dresden, 15.06.2021
Lang, Denny [VerfasserIn] ; Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf, Technische Universität Dresden

Infrared nanospectroscopy at cryogenic temperatures and on semiconductor nanowires

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

Dresden: HZDR, Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf, 2019

Erschienen in: Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf: Wissenschaftlich-technische Berichte ; 105
Flewitt, Peter E. J. [VerfasserIn]; Wild, Robert K. [VerfasserIn]

Physical methods for materials characterisation - [Third Edition]

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

Boca Raton; London; New York: CRC Press, [2017]

Erschienen in: Series in materials science and engineering
Klingner, Nico [VerfasserIn] ; Faßbender, Jürgen [AkademischeR BetreuerIn]; Faßbender, Jürgen [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Gölzhäuser, Armin [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Technische Universität Dresden

Ionenstrahlanalytik im Helium-Ionen-Mikroskop

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

Dresden: Technische Universität Dresden, 2016
Egerton, Ray [VerfasserIn]

Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM and AEM - [Second edition]

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

[Cham]: Springer Interantional Publishing, [2016]
Ziegler, James F. [VerfasserIn]; Biersack, Jochen [VerfasserIn]; Ziegler, Matthias D. [VerfasserIn]

SRIM - the stopping and range of ions in matter

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

Chester, Maryland: SRIM, 2015
Sardela, Mauro [HerausgeberIn]

Practical materials characterization

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

New York; Heidelberg; Dordrecht: Springer, [2014]
Scheler, Gerhard [VerfasserIn]

Bestimmung der spezifischen Ladung des Elektrons nach Hans Busch : mit diesem Experiment wurden im Jenaer Physikalischen Institut die Grundlagen zur Elektronenoptik gelegt

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

2013

Erschienen in: Jenaer Jahrbuch zur Technik- und Industriegeschichte ; 16(2013), Seite 293-310
Zou, Xiaodong [VerfasserIn]; Hovmöller, Sven [VerfasserIn]; Oleynikov, Peter [VerfasserIn]

Electron crystallography : electron microscopy and electron diffraction

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

Oxford [u.a.]: Oxford Univ. Press, 2011

Erschienen in: Texts on crystallography ; 16
Zewail, Ahmed H. [VerfasserIn]; Thomas, John M. [VerfasserIn]

4D electron microscopy : imaging in space and time

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

London: Imperial College Press, 2010 ; Singapore [u.a.]: World Scientific, 2010
Giannuzzi, Lucille A. [HerausgeberIn]; Stevie, Fred A. [HerausgeberIn]

Introduction to focused ion beams : instrumentation, theory, techniques and practice

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

New York, NY: Springer, [2010]
Sample preparation handbook for transmission electron microscopy / [1], Methodology

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

New York, NY [u.a.]: Springer [u.a.], 2010

Erschienen in: Sample preparation handbook for transmission electron microscopy / Jeanne Ayache ... ; [1]
Sample preparation handbook for transmission electron microscopy / [2], Techniques

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

New York, NY [u.a.]: Springer [u.a.], 2010

Erschienen in: Sample preparation handbook for transmission electron microscopy / Jeanne Ayache ... ; [2]
Rose, Harald H. [VerfasserIn]

Geometrical charged-particle optics - [1. ed.]

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

Berlin; Heidelberg: Springer, 2009

Erschienen in: Springer series in optical sciences ; 142
Liebl, Helmut [VerfasserIn]

Applied charged particle optics

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2008
Brisset, François [HerausgeberIn] ; École d'Été sur la Microscopie Électronqiue à Balayage et Microanalyses 2006 Saint-Martin-d'Hères

Microscopie électronique à balayage et microanalyses : publication du Groupement national de microscopie électronique à balayage et de microanalyses

Schließen

Merkliste

Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

Les Ulis: EDP Sciences, 2008

Sie haben das Gesuchte nicht gefunden?

Kauftipp
Sie vermissen etwas, was Sie für Ihre Forschungszwecke benötigen? Geben Sie uns hier einen Kauf-Tipp.

Fernleihe
Recherchieren und bestellen Sie Ihren gewünschten Titel im Rechercheportal der Fernleihe.

Nur in Feld suchen:

Zuletzt gesuchte Begriffe:

Sie haben das Gesuchte nicht gefunden?

> Erscheinungsjahr

Erscheinungsjahr