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  1. Kijowski, Janusz [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Załęski, Krzystof [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Żukowska, Ewa [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Kulczycka, Justyna [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Wyszyński, Krzysztof [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Bednarek, Jacek [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Wołyński, Wojciech [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

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    Warszawa: MediaWay, 2006 ; [Warszawa]: Studio Filmowe "OKO", 2006

    Erschienen in: Platynowa kolekcja polskiego kina

  2. Tomaszewski, Jacek [VerfasserIn]; Balicka-witakowska, Ewa [VerfasserIn]; Zofa Żukowska, Grażyna [VerfasserIn]

    Ethiopian Manuscript Maywäyni 041 with Added Miniature: Codicological and Technological Analysis

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    Erschienen in: Annales d'Ethiopie ; Vol. 29, n° 1, pp. 97-117

  3. Koukkari, Heli [VerfasserIn]; Zukowska, Ewa [VerfasserIn]; Chica, Jose [VerfasserIn]; Elguezabal, Peru [VerfasserIn]; Meno, Sandra [VerfasserIn]; Ungureanu, Viorel [VerfasserIn]; Ciutina, Adrian [VerfasserIn]; Dinca, Alexandra [VerfasserIn]; Grodzicka, Ewelin [VerfasserIn]; Chmielewski, Marcin [VerfasserIn] ; Europäische Kommission Research Fund for Coal and Steel

    Sustainable building project in steel (SB_Steel) : final report

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    Luxembourg: Publications Office of the European Union, 2015

    Erschienen in: EUR ; 2720200

  13. Oleszkiewicz, Waldemar; Oleszkiewicz, Ewa; Zukowska, Krystyna

    Optical investigations of Cr and CrN layers obtained by magnetron sputtering in ion-beam-assisted deposition process (IBAD)

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    SPIE, 1999

    Erschienen in: 11th Slovak-Czech-Polish Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics

  14. Zukowska, Krystyna; Oleszkiewicz, Ewa; Stolecki, Bonifacy

    Microcharacteristics of vanadium films from optical investigations in the spectral range 0.2 - 50 μm

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    SPIE, 1998

    Erschienen in: Tenth Polish-Czech-Slovak Optical Conference: Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics