Zum Inhalt springen

  1. Anashin, Vladimir

    Discreteness causes waves

    Aufsätze
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    National Library of Serbia, 2016

    Erschienen in: Facta universitatis - series: Physics, Chemistry and Technology

  2. Zebrev, Gennady I.; Vatuev, Alexander S.; Useinov, Rustem G.; Emeliyanov, Vladimir V.; Anashin, Vasily S.; Gorbunov, Maxim S.; Turin, Valentin O.; Yesenkov, Kirill A.

    Microdose Induced Drain Leakage Effects in Power Trench MOSFETs: Experiment and Modeling

    Aufsätze
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2014

    Erschienen in: IEEE Transactions on Nuclear Science

  3. Malyshev, Oleg B.; Anashin, Vadim V.; Dostovalov, Rodion V.; Fedorov, Nikita V.; Krasnov, Alexander A.; Collins, Ian R.; Ruzinov, Vladimir L.

    Method and setup for photodesorption measurements for a nonevaporable-getter-coated vacuum chamber

    Aufsätze
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    American Vacuum Society, 2005

    Erschienen in: Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films

  4. Osipenko, Pavel N.; Antonov, Andrey A.; Klishin, Alexander V.; Vasilegin, Boris V.; Gorbunov, Maxim S.; Dolotov, Pavel S.; Zebrev, Gennady I.; Anashin, Vasily S.; Emeliyanov, Vladimir V.; Ozerov, Alexander I.; Chumakov, Alexander I.; Yanenko, Andrey V.; Vasiliev, Alexey L.

    Fault-Tolerant SOI Microprocessor for Space Applications

    Aufsätze
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2013

    Erschienen in: IEEE Transactions on Nuclear Science

  5. Gorbunov, Maxim S.; Vasilegin, Boris V.; Antonov, Andrey A.; Osipenko, Pavel N.; Zebrev, Gennady I.; Anashin, Vasily S.; Emeliyanov, Vladimir V.; Ozerov, Alexander I.; Useinov, Rustem G.; Chumakov, Alexander I.; Pechenkin, Alexander A.; Yanenko, Andrey V.

    Analysis of SOI CMOS Microprocessor's SEE Sensitivity: Correlation of the Results Obtained by Different Test Methods

    Aufsätze
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2012

    Erschienen in: IEEE Transactions on Nuclear Science