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  1. Blumröder, Ulrike [Verfasser:in] ; Nolte, Stefan [Akademische:r Betreuer:in]; Schmidl, Frank [Akademische:r Betreuer:in]; Beigang, René [Akademische:r Betreuer:in] Friedrich-Schiller-Universität Jena

    Untersuchung der THz-Emission von Silizium in Abhängigkeit von Grenzflächen- und Kristalldefekten

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    Jena, [2021?]

  2. Blumröder, Ulrike [Verfasser:in]; Köchert, Paul [Verfasser:in]; Fröhlich, Thomas [Verfasser:in]; Kissinger, Thomas [Verfasser:in]; Ortlepp, Ingo [Verfasser:in]; Flügge, Jens [Verfasser:in]; Bosse, Harald [Verfasser:in]; Manske, Eberhard [Verfasser:in]

    A GPS-referenced wavelength standard for high-precision displacement interferometry at λ = 633 nm

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    2023

    Erschienen in: Sensors ; 23(2023), 3, Artikel-ID 1734, Seite 1-24

  3. Stauffenberg, Jaqueline [Verfasser:in]; Ortlepp, Ingo [Verfasser:in]; Blumröder, Ulrike [Verfasser:in]; Dontsov, Denis [Verfasser:in]; Schäffel, Christoph [Verfasser:in]; Holz, Mathias [Verfasser:in]; Rangelow, Ivo W. [Verfasser:in]; Manske, Eberhard [Verfasser:in]

    Investigations on the positioning accuracy of the Nano Fabrication Machine (NFM-100) = Untersuchungen zur Positioniergenauigkeit der NanoFabrikationsmaschine (NFM-100)

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    2021

    Erschienen in: Technisches Messen ; 88(2021), 9, Seite 581-589

  4. Manske, Eberhard [Verfasser:in]; Fröhlich, Thomas [Verfasser:in]; Füßl, Roland [Verfasser:in]; Ortlepp, Ingo [Verfasser:in]; Mastylo, Rostyslav [Verfasser:in]; Blumröder, Ulrike [Verfasser:in]; Dontsov, Denis [Verfasser:in]; Kühnel, Michael [Verfasser:in]; Köchert, Paul [Verfasser:in]

    Progress of nanopositioning and nanomeasuring machines for cross-scale measurement with sub-nanometre precision

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    2020

    Erschienen in: Measurement science and technology ; Volume 31 (2020), number 8, 085005, Seite 1-8

  5. Blumröder, Ulrike [Verfasser:in] ; Nolte, Stefan [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Schmidl, Frank [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Beigang, René [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Untersuchung der THz-Emission von Silizium in Abhängigkeit von Grenzflächen- und Kristalldefekten

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    Jena: Friedrich-Schiller-Universität Jena, 2021

  11. Blumröder, Ulrike; Zilk, Matthias; Hempel, Hannes; Hoyer, Patrick; Pertsch, Thomas; Eichberger, Rainer; Unold, Thomas; Nolte, Stefan

    Influence of structure geometry on THz emission from Black Silicon surfaces fabricated by reactive ion etching

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    Optica Publishing Group, 2017

    Erschienen in: Optics Express, 25 (2017) 6, Seite 6604

  13. Stauffenberg, Jaqueline; Ortlepp, Ingo; Blumröder, Ulrike; Dontsov, Denis; Schäffel, Christoph; Holz, Mathias; Rangelow, Ivo W.; Manske, Eberhard

    Investigations on the positioning accuracy of the Nano Fabrication Machine (NFM-100)

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    Walter de Gruyter GmbH, 2021

    Erschienen in: tm - Technisches Messen, 88 (2021) 9, Seite 581-589