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Shi, Yifu [Verfasser:in]; Jones, Megan E. [Verfasser:in]; Meier, Martin S. [Verfasser:in]; Wright, Matthew [Verfasser:in]; Polzin, Jana Isabelle [Verfasser:in]; Kwapil, Wolfram [Verfasser:in]; Fischer, Christian [Verfasser:in]; Schubert, Martin [Verfasser:in]; Grovenor, Chris [Verfasser:in]; Bonilla, Ruy S. [Verfasser:in]

Towards accurate atom scale characterisation of hydrogen passivation of interfaces in TOPCon architectures

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Konstanz: KOPS Universität Konstanz, 2022
Bonilla, Ruy S.

Controlling Surface Carrier Density via a PEDOT:PSS Gate: An Application to the Study of Silicon‐Dielectric Interface Recombination

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Wiley, 2018

Erschienen in: Solar RRL, 2 (2018) 10
Bonilla, Ruy S; Wilshaw, Peter R

Potassium ions in SiO2: electrets for silicon surface passivation

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IOP Publishing, 2018

Erschienen in: Journal of Physics D: Applied Physics, 51 (2018) 2, Seite 025101
Bonilla, Ruy S.; Wilshaw, Peter R.

On the c-Si/SiO2 interface recombination parameters from photo-conductance decay measurements

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AIP Publishing, 2017

Erschienen in: Journal of Applied Physics, 121 (2017) 13
Bonilla, Ruy S.; Wilshaw, Peter R.

A technique for field effect surface passivation for silicon solar cells

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AIP Publishing, 2014

Erschienen in: Applied Physics Letters, 104 (2014) 23
Bonilla, Ruy S.; Wilshaw, Peter R.

Stable Field Effect Surface Passivation of n-type Cz Silicon

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Elsevier BV, 2013

Erschienen in: Energy Procedia, 38 (2013), Seite 816-822
Bonilla, Ruy S.; Hoex, Bram; Hamer, Phillip; Wilshaw, Peter R.

Dielectric surface passivation for silicon solar cells: A review

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Wiley, 2017

Erschienen in: physica status solidi (a), 214 (2017) 7
Bonilla, Ruy S.; Reichel, Christian; Hermle, Martin; Wilshaw, Peter R.

Extremely low surface recombination in 1 Ω cm n‐type monocrystalline silicon

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Wiley, 2017

Erschienen in: physica status solidi (RRL) – Rapid Research Letters, 11 (2017) 1
Bonilla, Ruy S.; Reichel, Christian; Hermle, Martin; Wilshaw, Peter R.

Corona Field Effect Surface Passivation of n-type IBC Cells

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Elsevier BV, 2016

Erschienen in: Energy Procedia, 92 (2016), Seite 336-340
Bonilla, Ruy S.; Reichel, Christian; Hermle, Martin; Wilshaw, Peter R.

Erratum: “On the location and stability of charge in SiO2/SiNx dielectric double layers used for silicon surface passivation” [J. Appl. Phys. 115, 144105 (2014)]

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AIP Publishing, 2015

Erschienen in: Journal of Applied Physics, 117 (2015) 12, Seite 129901
Bonilla, Ruy S.; Martins, George; Wilshaw, Peter R.

Investigation of Parasitic Edge Recombination in High-Lifetime Oxidized n-Si

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Trans Tech Publications, Ltd., 2015

Erschienen in: Solid State Phenomena, 242 (2015), Seite 73-79
Bonilla, Ruy S.; Reichel, Christian; Hermle, Martin; Wilshaw, Peter R.

On the location and stability of charge in SiO2/SiNx dielectric double layers used for silicon surface passivation

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AIP Publishing, 2014

Erschienen in: Journal of Applied Physics, 115 (2014) 14
Bonilla, Ruy S.; Woodcock, Frederick; Wilshaw, Peter R.

Very low surface recombination velocity in n-type c-Si using extrinsic field effect passivation

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AIP Publishing, 2014

Erschienen in: Journal of Applied Physics, 116 (2014) 5
Bonilla, Ruy S.; Reichel, Christian; Hermle, Martin; Wilshaw, Peter R.

Electric Field Effect Surface Passivation for Silicon Solar Cells

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Trans Tech Publications, Ltd., 2013

Erschienen in: Solid State Phenomena, 205-206 (2013), Seite 346-351
Yu, Mingzhe; Wright, Matthew; McNab, Shona; Al-Dhahir, Isabel; Altermatt, Pietro P.; Bonilla, Ruy S.

Probing the interface state densities near band edges from inductively coupled measurements of sheet resistance

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AIP Publishing, 2023

Erschienen in: SILICONPV 2022, THE 12TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON CRYSTALLINE SILICON PHOTOVOLTAICS (2023)
O'Sullivan, John; Wright, Matthew; Niu, Xinya; Miller, Poppy; Wilshaw, Peter R.; Bonilla, Ruy S.

Towards a graphene transparent conducting electrode for perovskite/silicon tandem solar cells

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Wiley, 2023

Erschienen in: Progress in Photovoltaics: Research and Applications, 31 (2023) 12, Seite 1478-1492
Al-Dhahir, Isabel; McNab, Shona; Yu, Mingzhe; Shaw, Eleanor; Hamer, Phillip; Bonilla, Ruy S.

The influence of surface electric fields on the chemical passivation of Si-SiO2 interfaces after firing

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AIP Publishing, 2022

Erschienen in: SiliconPV 2021, The 11th International Conference on Crystalline Silicon Photovoltaics (2022)
Hallam, Brett J.; Hamer, Phill G.; Bonilla, Ruy S.; Wenham, Stuart R.; Wilshaw, Peter R.

Method of Extracting Solar Cell Parameters From Derivatives of Dark I–V Curves

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2017

Erschienen in: IEEE Journal of Photovoltaics, 7 (2017) 5, Seite 1304-1312
Hamer, Phillip; Bourret‐Sicotte, Gabrielle; Martins, George; Wenham, Alison; Bonilla, Ruy S.; Wilshaw, Peter

A novel source of atomic hydrogen for passivation of defects in silicon

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Wiley, 2017

Erschienen in: physica status solidi (RRL) – Rapid Research Letters, 11 (2017) 5
Hamer, Phillip; Bourret‐Sicotte, Gabrielle; Martins, George; Wenham, Alison; Bonilla, Ruy S.; Wilshaw, Peter

A novel source of atomic hydrogen for passivation of defects in silicon (Phys. Status Solidi RRL 5/2017)

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Wiley, 2017

Erschienen in: physica status solidi (RRL) – Rapid Research Letters, 11 (2017) 5

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