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  1. An, Xin [Verfasser:in]; Li, Jinghong [Verfasser:in]; Xu, Shuo [Verfasser:in]; Chen, Liang [Verfasser:in]; Pi, Sainan [Verfasser:in]

    A Novel Approach for Patent Similarity Measurement Based on Sequence Alignment

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    2020

    Erschienen in: Workshop on Extraction and Evaluation of Knowledge Entities from Scientific Documents (1. : 2020 : Online): EEKE 2020, 1st Workshop on Extraction and Evaluation of Knowledge Entities from Scientific Documents ; (2020), Seite 45-49

  2. Wu, Yaopeng [Verfasser:in]; Chen, Jinghong [Verfasser:in]; Yuan, Wei [Verfasser:in]; Zhang, Xiaoqing [Verfasser:in]; Bai, Shigen [Verfasser:in]; Chen, Yu [Verfasser:in]; Zhao, Bote [Verfasser:in]; Wu, Xuyang [Verfasser:in]; Wang, Chun [Verfasser:in]; Huang, Honglin [Verfasser:in]; Tang, Yong [Verfasser:in]; Wan, Zhenping [Verfasser:in]; Zhang, Shiwei [Verfasser:in]; Xie, Yingxi [Verfasser:in]

    Direct Mask-Free Fabrication of Damage-Less Patterned Hierarchical Graphene Electrode for On-Chip Micro-Supercapacitors

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    [S.l.]: SSRN, [2022]