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  2. Lüpke, Felix [Verfasser:in]; Cuma, David [Verfasser:in]; Korte, Stefan [Verfasser:in]; Cherepanov, Vasily [Verfasser:in]; Voigtländer, Bert [Verfasser:in]

    Four-point probe measurements using current probes with voltage feedback to measure electric potentials

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    IOP Publ., 2018

    Erschienen in: Journal of physics / Condensed matter 30(5), 054004-1 - 054004-7 (2018). doi:10.1088/1361-648X/aaa31e special issue: "Special Issue on Multi-Probe Techniques"

  3. Just, Sven [Verfasser:in]; Soltner, Helmut [Verfasser:in]; Korte, Stefan [Verfasser:in]; Cherepanov, Vasily [Verfasser:in]; Voigtländer, Bert [Verfasser:in]

    Surface conductivity of Si(100) and Ge(100) surfaces determined from four-point transport measurements using an analytical N -layer conductance model

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    American Physical Society, 2017

    Erschienen in: Physical review / B 95(7), 075310 (2017). doi:10.1103/PhysRevB.95.075310

  4. Just, Sven [Verfasser:in]; Lüpke, Felix [Verfasser:in]; Cherepanov, Vasily [Verfasser:in]; Tautz, F. Stefan [Verfasser:in]; Voigtländer, Bert [Verfasser:in]

    Parasitic conduction channels in topological insulator thin films

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    Inst., 2020

    Erschienen in: Physical review / B 101(24), 245413 (2020). doi:10.1103/PhysRevB.101.245413

  5. Leis, Arthur [Verfasser:in]; Rodenbücher, Christian [Verfasser:in]; Szot, Krzysztof [Verfasser:in]; Cherepanov, Vasily [Verfasser:in]; Tautz, F. Stefan [Verfasser:in]; Voigtländer, Bert [Verfasser:in]

    In-situ four-tip STM investigation of the transition from 2D to 3D charge transport in SrTiO3

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    Macmillan Publishers Limited, part of Springer Nature, 2019

    Erschienen in: Scientific reports 9(1), 2476 (2019). doi:10.1038/s41598-019-38888-x

  6. Lüpke, Felix [Verfasser:in]; Doležal, Jiří [Verfasser:in]; Cherepanov, Vasily [Verfasser:in]; Ošt’ádal, Ivan [Verfasser:in]; Tautz, Frank Stefan [Verfasser:in]; Voigtländer, Bert [Verfasser:in]

    Surface structures of tellurium on Si(111)–(7×7) studied by low-energy electron diffraction and scanning tunneling microscopy

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    Elsevier, 2019

    Erschienen in: Surface science 681, 130 - 133 (2019). doi:10.1016/j.susc.2018.11.016

  7. Voigtländer, Bert [Verfasser:in]; Coenen, Peter [Verfasser:in]; Cherepanov, Vasily [Verfasser:in]; Borgens, Peter [Verfasser:in]; Duden, Thomas [Verfasser:in]; Tautz, F. S. [Verfasser:in]

    Low vibration laboratory with a single-stage vibration isolation for microscopy applications

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    American Institute of Physics, 2017

    Erschienen in: Review of scientific instruments 88(2), 023703 -1 - 023703-7 (2017). doi:10.1063/1.4975832

  8. Just, Sven [Verfasser:in]; Blab, Marcus [Verfasser:in]; Korte, Stefan [Verfasser:in]; Cherepanov, Vasily [Verfasser:in]; Soltner, Helmut [Verfasser:in]; Voigtländer, Bert [Verfasser:in]

    Surface and Step Conductivities on Si(111) Surfaces

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    APS, 2015

    Erschienen in: Physical review letters 115(6), 066801 (2015). doi:10.1103/PhysRevLett.115.066801

  9. Korte, Stefan [Verfasser:in]; Steidl, Matthias [Verfasser:in]; Prost, Werner [Verfasser:in]; Cherepanov, Vasily [Verfasser:in]; Voigtländer, Bert [Verfasser:in]; Zhao, Weihong [Verfasser:in]; Kleinschmidt, Peter [Verfasser:in]; Hannappel, Thomas [Verfasser:in]

    Resistance and dopant profiling along freestanding GaAs nanowires

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    American Institute of Physics, 2013

    Erschienen in: Applied physics letters 103(14), 143104 - (2013). doi:10.1063/1.4823547

  10. Leis, Arthur [Verfasser:in]; Schleenvoigt, Michael [Verfasser:in]; Cherepanov, Vasily [Verfasser:in]; Lüpke, Felix [Verfasser:in]; Schüffelgen, Peter [Verfasser:in]; Mussler, Gregor [Verfasser:in]; Grützmacher, Detlev [Verfasser:in]; Voigtländer, Bert [Verfasser:in]; Tautz, F. Stefan [Verfasser:in]

    Front Cover: Lifting the Spin‐Momentum Locking in Ultra‐Thin Topological Insulator Films (Adv. Quantum Technol. 11/2021)

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    Wiley-VCH Verlag, 2021

    Erschienen in: Advanced quantum technologies 4(11), 2170111 - (2021). doi:10.1002/qute.202170111

  11. Leis, Arthur [Verfasser:in]; Schleenvoigt, Michael [Verfasser:in]; Cherepanov, Vasily [Verfasser:in]; Lüpke, Felix [Verfasser:in]; Schüffelgen, Peter [Verfasser:in]; Mussler, Gregor [Verfasser:in]; Grützmacher, Detlev [Verfasser:in]; Voigtländer, Bert [Verfasser:in]; Tautz, F. Stefan [Verfasser:in]

    Lifting the Spin‐Momentum Locking in Ultra‐Thin Topological Insulator Films

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    Wiley-VCH Verlag, 2021

    Erschienen in: Advanced quantum technologies 4(11), 2100083 - (2021). doi:10.1002/qute.202100083

  12. Esat, Taner [Verfasser:in]; Borgens, Peter [Verfasser:in]; Yang, Xiaosheng [Verfasser:in]; Coenen, Peter [Verfasser:in]; Cherepanov, Vasily [Verfasser:in]; Raccanelli, Andrea [Verfasser:in]; Tautz, F. Stefan [Verfasser:in]; Temirov, Ruslan [Verfasser:in]

    A millikelvin scanning tunneling microscope in ultra-high vacuum with adiabatic demagnetization refrigeration

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    American Institute of Physics, 2021

    Erschienen in: Review of scientific instruments 92(6), 063701 - (2021). doi:10.1063/5.0050532

  13. Leis, Arthur [Verfasser:in]; Schleenvoigt, Michael [Verfasser:in]; Jalil, Abdur Rehman [Verfasser:in]; Cherepanov, Vasily [Verfasser:in]; Mussler, Gregor [Verfasser:in]; Grützmacher, Detlev [Verfasser:in]; Tautz, F. Stefan [Verfasser:in]; Voigtländer, Bert [Verfasser:in]

    Room temperature in-situ measurement of the spin voltage of a BiSbTe3 thin film

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    Macmillan Publishers Limited, part of Springer Nature, 2020

    Erschienen in: Scientific reports 10(1), 2816 (2020). doi:10.1038/s41598-020-59679-9

  14. Leis, Arthur [Verfasser:in]; Schleenvoigt, Michael [Verfasser:in]; Tautz, F. Stefan [Verfasser:in]; Moors, Kristof [Verfasser:in]; Soltner, Helmut [Verfasser:in]; Cherepanov, Vasily [Verfasser:in]; Schüffelgen, Peter [Verfasser:in]; Mussler, Gregor [Verfasser:in]; Grützmacher, Detlev [Verfasser:in]; Voigtländer, Bert [Verfasser:in]; Lüpke, Felix [Verfasser:in]

    Probing Edge State Conductance in Ultra‐Thin Topological Insulator Films

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    Wiley-VCH Verlag, 2022

    Erschienen in: Advanced quantum technologies 5(9), 2200043 (2022). doi:10.1002/qute.202200043

  15. Lüpke, Felix [Verfasser:in]; Just, Sven [Verfasser:in]; Grützmacher, Detlev [Verfasser:in]; Voigtländer, Bert [Verfasser:in]; Bihlmayer, Gustav [Verfasser:in]; Lanius, Martin [Verfasser:in]; Luysberg, Martina [Verfasser:in]; Doležal, Jiří [Verfasser:in]; Neumann, Elmar [Verfasser:in]; Cherepanov, Vasily [Verfasser:in]; Ošt'ádal, Ivan [Verfasser:in]; Mussler, Gregor [Verfasser:in]

    Chalcogenide-based van der Waals epitaxy: Interface conductivity of tellurium on Si(111)

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    Inst., 2017

    Erschienen in: Physical review / B 96(3), 035301 (2017). doi:10.1103/PhysRevB.96.035301

  16. Lüpke, Felix [Verfasser:in]; Just, Sven [Verfasser:in]; Mussler, Gregor [Verfasser:in]; Plucinski, Lukasz [Verfasser:in]; Grützmacher, Detlev [Verfasser:in]; Schneider, Claus M. [Verfasser:in]; Tautz, F. Stefan [Verfasser:in]; Voigtländer, Bert [Verfasser:in]; Eschbach, Markus [Verfasser:in]; Heider, Tristan [Verfasser:in]; Młyńczak, Ewa [Verfasser:in]; Lanius, Martin [Verfasser:in]; Schüffelgen, Peter [Verfasser:in]; Rosenbach, Daniel [Verfasser:in]; von den Driesch, Nils [Verfasser:in]; Cherepanov, Vasily [Verfasser:in]

    In situ disentangling surface state transport channels of a topological insulator thin film by gating

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    Nature Publishing Group, 2018

    Erschienen in: npj quantum materials 3(1), 46 (2018). doi:10.1038/s41535-018-0116-1

  17. Lüpke, Felix [Verfasser:in]; Eschbach, Markus [Verfasser:in]; Grützmacher, Detlev [Verfasser:in]; Schneider, Claus Michael [Verfasser:in]; Voigtländer, Bert [Verfasser:in]; Heider, Tristan [Verfasser:in]; Lanius, Martin [Verfasser:in]; Schüffelgen, Peter [Verfasser:in]; Rosenbach, Daniel [Verfasser:in]; von den Driesch, Nils [Verfasser:in]; Cherepanov, Vasily [Verfasser:in]; Mussler, Gregor [Verfasser:in]; Plucinski, Lukasz [Verfasser:in]

    Electrical resistance of individual defects on a topological insulator surface

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    Nature Publishing Group, 2017

    Erschienen in: Nature Communications, 15704 (2017). doi:10.1038/ncomms15704