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Los Alamitos, Calif. [u.a.]: IEEE Computer Soc., 2000
Borrione, Dominique
[HerausgeberIn]
;
DATE 1999 München,
EuropeanDesignAutomationAssociation,
Electronic Design Automation Consortium,
IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee,
Association for Computing Machinery Special Interest Group on Design Automation
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Piscataway, NJ: IEEE, 2006
Wehn, Norbert
[Sonstige Person, Familie und Körperschaft]
;
EuropeanDesignAutomationAssociation,
Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition 2005 München
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Los Alamitos, Calif. [u.a.]: IEEE Computer Soc., 2005
Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition 22. 2019 Florenz,
EuropeanDesignAutomationAssociation,
IEEE Council on Electronic Design Automation,
European Electronic Chips & Systems Design Initiative,
Association for Computing Machinery Special Interest Group on Design Automation,
Rossijskaja akademija nauk
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[Piscataway, NJ]: IEEE, 2019
Madsen, Jan
[VeranstalterIn]
;
DATE Veranstaltung 21. 2018 Dresden,
EuropeanDesignAutomationAssociation,
IEEE Council on Electronic Design Automation,
European Electronic Chips & Systems Design Initiative,
Association for Computing Machinery Special Interest Group on Design Automation,
Rossijskaja akademija nauk
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Piscataway, NJ: IEEE, 2015
Preas, Kathy
[Sonstige Person, Familie und Körperschaft]
;
EuropeanDesignAutomationAssociation,
IEEE Computer Society Test Technology Technical Council
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Washington, D.C: IEEE Computer Society Press, 1990
Conference on Design, Automation & Test in Europe 2017 Lausanne,
EuropeanDesignAutomationAssociation,
IEEE Computer Society Test Technology Technical Council,
IEEE Solid-State Circuits Society,
International Federation for Information Processing
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[Piscataway, NJ]: IEEE, 2017
IEEE European Test Symposium 24. 2019 Baden-Baden,
Deutsche Forschungsgemeinschaft,
Institute of Electrical and Electronics Engineers,
Institute of Electrical and Electronics Engineers,
IEEE Council on Electronic DesignAutomation
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[Piscataway, New Jersey]: IEEE, [2019]
IEEE European Test Symposium 23. 2018 Bremen,
Institute of Electrical and Electronics Engineers,
Institute of Electrical and Electronics Engineers,
Universität Bremen,
Deutsches Forschungszentrum für Künstliche Intelligenz,
Deutsche Forschungsgemeinschaft,
IEEE Council on Electronic DesignAutomation,
IEEE Computer Society Test Technology Technical Council