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  1. Sattler, Sebastian [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik, Informationstechnische Gesellschaft, Tagung Zuverlässigkeit und Entwurf 2008 Ingolstadt

    Zuverlässigkeit und Entwurf : 2. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 29. September bis 1. Oktober 2008 in Ingolstadt

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    Berlin; Offenbach: VDE-Verl., 2008

    Erschienen in: Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik: GMM-Fachbericht ; 57

  2. Dietrich, Manfred [HerausgeberIn] ; Informationstechnische Gesellschaft, Informationstechnische Gesellschaft, Gesellschaft für Informatik, Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik, Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf 2013 Dresden

    Zuverlässigkeit und Entwurf : 7. ITG/GI/GMM-Fachtagung vom 24. bis 26. September 2013 in Dresden

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    Berlin; Offenbach: VDE-Verl., 2013

    Erschienen in: Informationstechnische Gesellschaft: ITG-Fachbericht ; 244,buch

  3. Dietrich, Manfred [HerausgeberIn] ; Informationstechnische Gesellschaft, Informationstechnische Gesellschaft, Gesellschaft für Informatik, Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik, Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf 2013 Dresden

    Zuverlässigkeit und Entwurf : 7. ITG/GI/GMM-Fachtagung vom 24. bis 26. September 2013 in Dresden - [Online-Ressource]

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    Berlin; Offenbach: VDE-Verl., 2013

    Erschienen in: Informationstechnische Gesellschaft: ITG-Fachbericht ; 24400

  4. ZuE 2015 Siegen, Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik, Informationstechnische Gesellschaft, Gesellschaft für Informatik

    ZuE 2015 : 8. GMM/ITG/GI-Symposium Reliability by Design : 21-23 Sept. 2015

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    [Piscataway, NJ]: IEEE, 2015

  5. ZuE 2017 Cottbus, Informationstechnische Gesellschaft, Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik, Gesellschaft für Informatik

    Reliability by Design : 9. ITG/GMM/GI-Symposium : 18-20 Sept. 2017 = Zuverlässigkeit und Entwurf

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    [Frankfurt am Main]: VDE, 2017