Domènech Garcia, Berta
[Verfasser:in];
Kampferbeck, Michael
[Verfasser:in];
Larsson, Emanuel
[Verfasser:in];
Krekeler, Tobias
[Verfasser:in];
Bor, Büsra
[Verfasser:in];
Giuntini, Diletta
[Verfasser:in];
Blankenburg, Malte
[Verfasser:in];
Ritter, Martin
[Verfasser:in];
Müller, Martin
[Verfasser:in];
Vossmeyer, Tobias
[Verfasser:in];
Weller, Horst
[Verfasser:in];
Schneider, Gerold A.
[Verfasser:in]
;
Technische Universität Hamburg,
Technische Universität Hamburg,
Technische Universität Hamburg Institut für Keramische Hochleistungswerkstoffe,
Technische Universität Hamburg Institut für Keramische Hochleistungswerkstoffe,
Technische Universität Hamburg Betriebseinheit Elektronenmikroskopie BEEM,
Technische Universität Hamburg Betriebseinheit Elektronenmikroskopie BEEM,
SFB 986 Maßgeschneiderte Multiskalige Materialsysteme M3,
SFB 986 Maßgeschneiderte Multiskalige Materialsysteme M3