Zum Inhalt springen Kahng, Andrew B. [VerfasserIn]; Lienig, Jens [VerfasserIn]; Markov, Igor L. [VerfasserIn] Chāodà guimó jichéng diànlù wùlǐ shèji : Cóng túféngé dào shixù shōuliǎn Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Běijing: Jixiè gōngyè chūbǎnshe, 2014 Erschienen in: Guóji diànqi gōngchéng xiānjin jishù yi cóng Kahng, Andrew B. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Lienig, Jens [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] VLSI physical design : from graph partitioning to timing closure Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Dordrecht; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2011 Kahng, Andrew B. [VerfasserIn]; Lienig, Jens [VerfasserIn]; Markov, Igor L. [VerfasserIn]; Hu, Jin [VerfasserIn] VLSI physical design: from graph partitioning to timing closure - [Second edition] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Cham: Springer, [2022] Kahng, Andrew B. [VerfasserIn] ; Association for Computing Machinery, ACM Special Interest Group on Design Automation Proceedings of the 1997 international symposium on Physical design Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via ACM Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. New York, NY: ACM, 1997 Erschienen in: ACM Digital Library- ACM Conferences Kahng, Andrew B. [VerfasserIn]; Lienig, Jens [VerfasserIn]; Markov, Igor L. [VerfasserIn]; Hu, Jin [VerfasserIn] VLSI Physical Design: From Graph Partitioning to Timing Closure - [2nd ed. 2022.] Bücher Online ansehen Schließen > Zugang https://doi.org/10.1007/978-3-030-96415-3 Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Cham: Springer International Publishing, 2022. ; Cham: Imprint: Springer, 2022. Kahng, Andrew B. Lithography-induced limits to scaling of design quality Konferenzberichte Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via DOI) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. SPIE, 2014 Erschienen in: SPIE Proceedings Kahng, Andrew B. Roads not taken Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2011 Erschienen in: IEEE Design & Test of Computers Kahng, Andrew B. Performance-driven optical proximity correction for mask cost reduction Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. SPIE-Intl Soc Optical Eng, 2007 Erschienen in: Journal of Micro/Nanolithography, MEMS, and MOEMS Kahng, Andrew B. Lithography and design in partnership: a new roadmap Konferenzberichte Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via DOI) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. SPIE, 2008 Erschienen in: Photomask Technology 2008 Kahng, Andrew B. Design for manufacturability: Then and now Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2011 Erschienen in: IEEE Design & Test of Computers Kahng, Andrew B. Random structure of error surfaces: toward new stochastic learning methods Konferenzberichte Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via DOI) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. SPIE, 1992 Erschienen in: SPIE Proceedings Kahng, Andrew B. Design-process integration and shared red bricks Konferenzberichte Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via DOI) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. SPIE, 2002 Erschienen in: SPIE Proceedings Kahng, Andrew B. Product Futures Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2011 Erschienen in: IEEE Design & Test of Computers Kahng, Andrew B. Roadmapping Power Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2011 Erschienen in: IEEE Design & Test of Computers Kahng, Andrew B. The Future of Signoff Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2011 Erschienen in: IEEE Design & Test of Computers Kahng, Andrew B. When is 3D 2B? Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2010 Erschienen in: IEEE Design & Test of Computers Kahng, Andrew B. Cost-driven mask strategies considering parametric yield, defectivity, and production volume Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. SPIE-Intl Soc Optical Eng, 2011 Erschienen in: Journal of Micro/Nanolithography, MEMS, and MOEMS Kahng, Andrew B. Scaling: More than Moore's law Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2010 Erschienen in: IEEE Design & Test of Computers Kahng, Andrew B. Machine Learning for CAD/EDA: The Road Ahead Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2023 Erschienen in: IEEE Design & Test Kahng, Andrew B.; Reda, Sherief Zero-Change Netlist Transformations: A New Technique for Placement Benchmarking Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2006 Erschienen in: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
Kahng, Andrew B. [VerfasserIn]; Lienig, Jens [VerfasserIn]; Markov, Igor L. [VerfasserIn] Chāodà guimó jichéng diànlù wùlǐ shèji : Cóng túféngé dào shixù shōuliǎn Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Běijing: Jixiè gōngyè chūbǎnshe, 2014 Erschienen in: Guóji diànqi gōngchéng xiānjin jishù yi cóng
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Kahng, Andrew B. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Lienig, Jens [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] VLSI physical design : from graph partitioning to timing closure Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Dordrecht; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2011
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Kahng, Andrew B. [VerfasserIn] ; Association for Computing Machinery, ACM Special Interest Group on Design Automation Proceedings of the 1997 international symposium on Physical design Bücher Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via ACM Digital Library) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. New York, NY: ACM, 1997 Erschienen in: ACM Digital Library- ACM Conferences
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Kahng, Andrew B. [VerfasserIn]; Lienig, Jens [VerfasserIn]; Markov, Igor L. [VerfasserIn]; Hu, Jin [VerfasserIn] VLSI Physical Design: From Graph Partitioning to Timing Closure - [2nd ed. 2022.] Bücher Online ansehen Schließen > Zugang https://doi.org/10.1007/978-3-030-96415-3 Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Cham: Springer International Publishing, 2022. ; Cham: Imprint: Springer, 2022.
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Kahng, Andrew B. Roadmapping Power Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2011 Erschienen in: IEEE Design & Test of Computers
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Kahng, Andrew B. Cost-driven mask strategies considering parametric yield, defectivity, and production volume Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. SPIE-Intl Soc Optical Eng, 2011 Erschienen in: Journal of Micro/Nanolithography, MEMS, and MOEMS
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Kahng, Andrew B. Scaling: More than Moore's law Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2010 Erschienen in: IEEE Design & Test of Computers
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Kahng, Andrew B. Machine Learning for CAD/EDA: The Road Ahead Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2023 Erschienen in: IEEE Design & Test
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Kahng, Andrew B.; Reda, Sherief Zero-Change Netlist Transformations: A New Technique for Placement Benchmarking Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2006 Erschienen in: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
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> Medientyp Skip to next facet Aufsätze (79) Wert ausschließen Konferenzberichte (42) Wert ausschließen Bücher (5) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Verfügbarkeit Skip to next facet Freihand verfügbar (3) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Standort Skip to next facet Bereichsbibliothek DrePunct (3) Wert ausschließen Zentralbibliothek (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Zugangsstatus Skip to next facet Freier Zugang (8) Wert ausschließen Ohne Angabe (115) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Sprache Skip to next facet Nicht zu entscheiden (97) Wert ausschließen Englisch (29) Wert ausschließen Chinesisch (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Fachgebiet Skip to next facet Technik (73) Wert ausschließen Mathematik (67) Wert ausschließen Informatik (66) Wert ausschließen Physik (63) Wert ausschließen Biologie (1) Wert ausschließen Wirtschaftswissenschaften (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Person/Institution Skip to next facet Kahng, Andrew B. (124) Wert ausschließen Gupta, Puneet (20) Wert ausschließen Park, Chul-Hong (15) Wert ausschließen Xu, Xu (14) Wert ausschließen Jeong, Kwangok (8) Wert ausschließen Li, Jiajia (7) Wert ausschließen Markov, Igor L. (6) Wert ausschließen Sylvester, Dennis (6) Wert ausschließen Wang, Lutong (6) Wert ausschließen Chan, Tuck-Boon (5) Wert ausschließen Kim, Youngmin (5) Wert ausschließen Samadi, Kambiz (5) Wert ausschließen Sharma, Puneet (5) Wert ausschließen Xu, Bangqi (5) Wert ausschließen Han, Kwangsoo (4) Wert ausschließen Kang, Seokhyeong (4) Wert ausschließen Lee, Hyein (4) Wert ausschließen Lienig, Jens (4) Wert ausschließen Muddu, Sudhakar (4) Wert ausschließen Muddu, Swamy (4) Wert ausschließen Muddu, Swamy V. (4) Wert ausschließen Robins, Gabriel (4) Wert ausschließen Shah, Saumil (4) Wert ausschließen Srinivas, Vaishnav (4) Wert ausschließen Zelikovsky, Alexander (4) Wert ausschließen Zelikovsky, Alexander Z. (4) Wert ausschließen Boese, Kenneth D. (3) Wert ausschließen Caldwell, Andrew E. (3) Wert ausschließen Cheng, Chung-Kuan (3) Wert ausschließen He, Lei (3) Wert ausschließen Lin, Bill (3) Wert ausschließen Nakagawa, Sam (3) Wert ausschließen Nath, Siddhartha (3) Wert ausschließen Tam, King Ho (3) Wert ausschließen Xiong, Jinjun (3) Wert ausschließen Yao, Hailong (3) Wert ausschließen Zelikovsky, Alex (3) Wert ausschließen Babin, Sergey V. (2) Wert ausschließen Chen, Yu (2) Wert ausschließen Fatemi, Hamed (2) Wert ausschließen Franklin, Donald E. (2) Wert ausschließen Greenway, Robert T. (2) Wert ausschließen Hu, Jin (2) Wert ausschließen Joshi, Ajay (2) Wert ausschließen Kahng, Andrew B (2) Wert ausschließen Kim, Minsoo (2) Wert ausschließen Kim, Seungwon (2) Wert ausschließen Liu, Bao (2) Wert ausschließen Mandoiu, Ion (2) Wert ausschließen Mandoiu, Ion I. (2) Wert ausschließen Muralimanohar, Naveen (2) Wert ausschließen Măndoiu, Ion I. (2) Wert ausschließen Petersen, John S. (2) Wert ausschließen Pineda de Gyvez, Jose (2) Wert ausschließen Reda, Sherief (2) Wert ausschließen Topaloglu, Rasit Onur (2) Wert ausschließen Woo, Mingyu (2) Wert ausschließen ACM Special Interest Group on Design Automation (1) Wert ausschließen Abellan, Jose L. (1) Wert ausschließen Agrawal, Prabhav (1) Wert ausschließen Alaghi, Armin (1) Wert ausschließen Alpert, Charles J (1) Wert ausschließen Association for Computing Machinery (1) Wert ausschließen Babin, Sergey (1) Wert ausschließen Balac, Natasha (1) Wert ausschließen Balasubramonian, Rajeev (1) Wert ausschließen Berman, Piotr (1) Wert ausschließen Blutman, Kristof (1) Wert ausschließen Broxterman, Mike (1) Wert ausschließen Caldwell, Andrew (1) Wert ausschließen Carloni, Luca P. (1) Wert ausschließen Chan, Tuck Boon (1) Wert ausschließen Chan, Wei-Ting J. (1) Wert ausschließen Chan, Wei-Ting Jonas (1) Wert ausschließen Chatterjee, Biswadeep (1) Wert ausschließen Chiang, Charles (1) Wert ausschließen Cong, Jason (1) Wert ausschließen Cooper, Joshua N (1) Wert ausschließen Coskun, Ayse (1) Wert ausschließen Coskun, Ayse K. (1) Wert ausschließen Cuevas, Patrick (1) Wert ausschließen De, Vivek K. (1) Wert ausschließen Debacker, Peter (1) Wert ausschließen Dobre, Sorin Adrian (1) Wert ausschließen Dragan, Feodor F. (1) Wert ausschließen Ellis, Robert B (1) Wert ausschließen Ellis, Robert B. (1) Wert ausschließen Eris, Furkan (1) Wert ausschließen Farahani, Bahar (1) Wert ausschließen Firouzi, Farshad (1) Wert ausschließen Gu, Anjun (1) Wert ausschließen Gupta, Mohit (1) Wert ausschließen Han, Changho (1) Wert ausschließen Hayashi, Kathy H. (1) Wert ausschließen Hayes, John P. (1) Wert ausschließen Hendel, Rudolf (1) Wert ausschließen Holtz, Chester (1) Wert ausschließen Hu, T. C. (1) Wert ausschließen Jin, Warren (1) Wert ausschließen Johann, Marcelo O. (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Kollektion Skip to next facet Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (CrossRef) (51) Wert ausschließen SPIE (CrossRef) (40) Wert ausschließen Association for Computing Machinery (ACM) (CrossRef) (11) Wert ausschließen Elsevier BV (CrossRef) (5) Wert ausschließen Verbunddaten SWB (5) Wert ausschließen Springer Berlin Heidelberg (CrossRef) (4) Wert ausschließen Hindawi Limited (CrossRef) (2) Wert ausschließen SPIE-Intl Soc Optical Eng (CrossRef) (2) Wert ausschließen ACM Press (CrossRef) (1) Wert ausschließen American Vacuum Society (CrossRef) (1) Wert ausschließen IEEE (CrossRef) (1) Wert ausschließen JSTOR Health & General Sciences (1) Wert ausschließen JSTOR Life Sciences Archive (1) Wert ausschließen Mary Ann Liebert Inc (CrossRef) (1) Wert ausschließen Wiley (CrossRef) (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen