Zum Inhalt springen

  1. Kularatna, Nihal

    Book Reviews [3 books reviewed]

    Aufsätze
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2023

    Erschienen in: IEEE Electrical Insulation Magazine, 39 (2023) 6, Seite 40-41

  2. Kularatna, Nihal

    Book Reviews [Three books reviewed]

    Aufsätze
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2023

    Erschienen in: IEEE Electrical Insulation Magazine, 39 (2023) 4, Seite 58-59

  3. Kularatna, Nihal

    Book Reviews [Two books reviewed]

    Aufsätze
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2023

    Erschienen in: IEEE Electrical Insulation Magazine, 39 (2023) 3, Seite 43-45

  4. Kularatna, Nihal

    Book Reviews [Two Books Reviewed]

    Aufsätze
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2024

    Erschienen in: IEEE Electrical Insulation Magazine, 40 (2024) 1, Seite 49-51

  5. Kularatna, Nihal

    Supercapacitors Improve the Performance of Linear Power-Management Circuits: Unique new design options when capacitance jump from micro-farads to farads with a low equivalent series resistance

    Aufsätze
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2016

    Erschienen in: IEEE Power Electronics Magazine, 3 (2016) 1, Seite 45-59