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  2. Facsko, Stefan [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Bobek, Thomas [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Kurz, Heinrich [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Dekorsy, Thomas [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Kyrsta, Stepan [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Cremer, R. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Ion-induced formation of regular nanostructures on amorphous GaSb surfaces

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    Konstanz: Bibliothek der Universität Konstanz, 2002

  7. B�ckins, Matthias; Aretz, Anke; Richter, Silvia; Kyrsta, Stepan; Sp�hn, Michael; Mayer, Joachim

    Depth Profile Analysis on the Nanometer Scale by a Combination of Electron Probe Microanalysis (EPMA) and Focused Ion Beam Specimen Preparation (FIB)

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    Springer Science and Business Media LLC, 2004

    Erschienen in: Microchimica Acta, 145 (2004) 1-4, Seite 187-192