Zum Inhalt springen Nanver, Lis K. [Verfasser:in] High-performance BIFET process for analog integrated circuits Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. 1987 Qi, Lin; Nanver, Lis K. Conductance Along the Interface Formed by 400 °C Pure Boron Deposition on Silicon Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2015 Erschienen in: IEEE Electron Device Letters, 36 (2015) 2, Seite 102-104 Krakers, Max; Knežević, Tihomir; Nanver, Lis K. Optoelectrical Operation Stability of Broadband PureGaB Ge-on-Si Photodiodes with Anomalous Al-Mediated Sidewall Contacting Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Springer Science and Business Media LLC, 2021 Erschienen in: Journal of Electronic Materials, 50 (2021) 12, Seite 7026-7036 Sammak, Amir; Qi, Lin; Nanver, Lis K. Restricted-Access Al-Mediated Material Transport in Al Contacting of PureGaB Ge-on-Si p + n Diodes Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Springer Science and Business Media LLC, 2015 Erschienen in: Journal of Electronic Materials, 44 (2015) 12, Seite 4676-4683 Qi, Lin; Lorito, Gianpaolo; Nanver, Lis K. Lateral-Transistor Test Structures for Evaluating the Effectiveness of Surface Doping Techniques Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2012 Erschienen in: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, 25 (2012) 4, Seite 581-588 Popadic, Milos; Lorito, Gianpaolo; Nanver, Lis K. Analytical Model of Characteristics of Arbitrarily Shallow p-n Junctions Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2009 Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices, 56 (2009) 1, Seite 116-125 Civale, Yann; Nanver, Lis K.; Schellevis, Hugo Selective Solid-Phase Silicon Epitaxy of ${\hbox{p}}^{+}$ Aluminum-Doped Contacts for Nanoscale Devices Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2007 Erschienen in: IEEE Transactions On Nanotechnology, 6 (2007) 2, Seite 196-200 Civale, Y.; Nanver, Lis K.; Schellevis, H. Material-Inversion Solid-Phase Epitaxy of p+ Si forElevated Junctions Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. The Electrochemical Society, 2006 Erschienen in: ECS Meeting Abstracts, MA2006-02 (2006) 20, Seite 1006-1006 Knezevic, Tihomir; Suligoj, Tomislav; Capan, Ivana; Nanver, Lis K. Low-Temperature Electrical Performance of PureB Photodiodes Revealing Al-Metallization-Related Degradation of Dark Currents Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2021 Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices, 68 (2021) 6, Seite 2810-2817 Shivakumar, D. Thammaiah; Knežević, Tihomir; Nanver, Lis K. Nanometer-thin pure boron CVD layers as material barrier to Au or Cu metallization of Si Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Springer Science and Business Media LLC, 2021 Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics, 32 (2021) 6, Seite 7123-7135 Osrečki, Željko; Knežević, Tihomir; Nanver, Lis K.; Suligoj, Tomislav Indirect optical crosstalk reduction by highly-doped backside layer in single-photon avalanche diode arrays Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Springer Science and Business Media LLC, 2018 Erschienen in: Optical and Quantum Electronics, 50 (2018) 3 Liu, Xingyu; Nanver, Lis K.; Scholtes, Tom L. M. Nanometer-Thin Pure Boron Layers as Mask for Silicon Micromachining Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2017 Erschienen in: Journal of Microelectromechanical Systems, 26 (2017) 6, Seite 1428-1434 Sammak, Amir; Aminian, Mahdi; Nanver, Lis K.; Charbon, Edoardo CMOS-Compatible PureGaB Ge-on-Si APD Pixel Arrays Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2016 Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices, 63 (2016) 1, Seite 92-99 Shi, Lei; Nihtianov, Stoyan; Nanver, Lis K.; Scholze, Frank Stability Characterization of High-Sensitivity Silicon-Based EUV Photodiodes in a Detrimental Environment Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2013 Erschienen in: IEEE Sensors Journal, 13 (2013) 5, Seite 1699-1707 Sarubbi, Francesco; Scholtes, Tom L. M.; Nanver, Lis K. Chemical Vapor Deposition of α-Boron Layers on Silicon for Controlled Nanometer-Deep p + n Junction Formation Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Springer Science and Business Media LLC, 2010 Erschienen in: Journal of Electronic Materials, 39 (2010) 2, Seite 162-173 Sarubbi, Francesco; Nanver, Lis K.; Scholtes, Tom L. M. High Effective Gummel Number of CVD Boron Layers in Ultrashallow $\hbox{p}^{+}\hbox{n}$ Diode Configurations Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2010 Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices, 57 (2010) 6, Seite 1269-1278 Rinaldi, NiccolÒ; d'Alessandro, Vincenzo; Nanver, Lis K. Analysis of the Bipolar Current Mirror Including Electrothermal and Avalanche Effects Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2009 Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices, 56 (2009) 6, Seite 1309-1321 Sarubbi, Francesco; Nanver, Lis K.; Scholtes, Tom L. CVD Delta-Doped Boron Surface Layers for Ultra-Shallow Junction Formation Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. The Electrochemical Society, 2006 Erschienen in: ECS Meeting Abstracts, MA2006-02 (2006) 20, Seite 1000-1000 Qi, Lin; Mok, K. R. C.; Aminian, Mahdi; Charbon, Edoardo; Nanver, Lis K. UV-Sensitive Low Dark-Count PureB Single-Photon Avalanche Diode Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2014 Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices, 61 (2014) 11, Seite 3768-3774 Nanver, Lis K.; Hassan, Vinayak V.; Attariabad, Asma; Rosson, Nicholas; Arena, Chantal J. Broadband PureB Ge-on-Si Photodiodes Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2024 Erschienen in: IEEE Electron Device Letters, 45 (2024) 6, Seite 1040-1043
Nanver, Lis K. [Verfasser:in] High-performance BIFET process for analog integrated circuits Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. 1987
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Qi, Lin; Nanver, Lis K. Conductance Along the Interface Formed by 400 °C Pure Boron Deposition on Silicon Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2015 Erschienen in: IEEE Electron Device Letters, 36 (2015) 2, Seite 102-104
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Krakers, Max; Knežević, Tihomir; Nanver, Lis K. Optoelectrical Operation Stability of Broadband PureGaB Ge-on-Si Photodiodes with Anomalous Al-Mediated Sidewall Contacting Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Springer Science and Business Media LLC, 2021 Erschienen in: Journal of Electronic Materials, 50 (2021) 12, Seite 7026-7036
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Sammak, Amir; Qi, Lin; Nanver, Lis K. Restricted-Access Al-Mediated Material Transport in Al Contacting of PureGaB Ge-on-Si p + n Diodes Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Springer Science and Business Media LLC, 2015 Erschienen in: Journal of Electronic Materials, 44 (2015) 12, Seite 4676-4683
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Qi, Lin; Lorito, Gianpaolo; Nanver, Lis K. Lateral-Transistor Test Structures for Evaluating the Effectiveness of Surface Doping Techniques Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2012 Erschienen in: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, 25 (2012) 4, Seite 581-588
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Popadic, Milos; Lorito, Gianpaolo; Nanver, Lis K. Analytical Model of Characteristics of Arbitrarily Shallow p-n Junctions Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2009 Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices, 56 (2009) 1, Seite 116-125
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Civale, Yann; Nanver, Lis K.; Schellevis, Hugo Selective Solid-Phase Silicon Epitaxy of ${\hbox{p}}^{+}$ Aluminum-Doped Contacts for Nanoscale Devices Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2007 Erschienen in: IEEE Transactions On Nanotechnology, 6 (2007) 2, Seite 196-200
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Civale, Y.; Nanver, Lis K.; Schellevis, H. Material-Inversion Solid-Phase Epitaxy of p+ Si forElevated Junctions Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. The Electrochemical Society, 2006 Erschienen in: ECS Meeting Abstracts, MA2006-02 (2006) 20, Seite 1006-1006
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Knezevic, Tihomir; Suligoj, Tomislav; Capan, Ivana; Nanver, Lis K. Low-Temperature Electrical Performance of PureB Photodiodes Revealing Al-Metallization-Related Degradation of Dark Currents Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2021 Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices, 68 (2021) 6, Seite 2810-2817
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Shivakumar, D. Thammaiah; Knežević, Tihomir; Nanver, Lis K. Nanometer-thin pure boron CVD layers as material barrier to Au or Cu metallization of Si Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Springer Science and Business Media LLC, 2021 Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics, 32 (2021) 6, Seite 7123-7135
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Osrečki, Željko; Knežević, Tihomir; Nanver, Lis K.; Suligoj, Tomislav Indirect optical crosstalk reduction by highly-doped backside layer in single-photon avalanche diode arrays Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Springer Science and Business Media LLC, 2018 Erschienen in: Optical and Quantum Electronics, 50 (2018) 3
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Liu, Xingyu; Nanver, Lis K.; Scholtes, Tom L. M. Nanometer-Thin Pure Boron Layers as Mask for Silicon Micromachining Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2017 Erschienen in: Journal of Microelectromechanical Systems, 26 (2017) 6, Seite 1428-1434
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Sammak, Amir; Aminian, Mahdi; Nanver, Lis K.; Charbon, Edoardo CMOS-Compatible PureGaB Ge-on-Si APD Pixel Arrays Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2016 Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices, 63 (2016) 1, Seite 92-99
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Shi, Lei; Nihtianov, Stoyan; Nanver, Lis K.; Scholze, Frank Stability Characterization of High-Sensitivity Silicon-Based EUV Photodiodes in a Detrimental Environment Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2013 Erschienen in: IEEE Sensors Journal, 13 (2013) 5, Seite 1699-1707
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Sarubbi, Francesco; Scholtes, Tom L. M.; Nanver, Lis K. Chemical Vapor Deposition of α-Boron Layers on Silicon for Controlled Nanometer-Deep p + n Junction Formation Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Springer Science and Business Media LLC, 2010 Erschienen in: Journal of Electronic Materials, 39 (2010) 2, Seite 162-173
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Sarubbi, Francesco; Nanver, Lis K.; Scholtes, Tom L. M. High Effective Gummel Number of CVD Boron Layers in Ultrashallow $\hbox{p}^{+}\hbox{n}$ Diode Configurations Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2010 Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices, 57 (2010) 6, Seite 1269-1278
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Rinaldi, NiccolÒ; d'Alessandro, Vincenzo; Nanver, Lis K. Analysis of the Bipolar Current Mirror Including Electrothermal and Avalanche Effects Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2009 Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices, 56 (2009) 6, Seite 1309-1321
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Sarubbi, Francesco; Nanver, Lis K.; Scholtes, Tom L. CVD Delta-Doped Boron Surface Layers for Ultra-Shallow Junction Formation Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. The Electrochemical Society, 2006 Erschienen in: ECS Meeting Abstracts, MA2006-02 (2006) 20, Seite 1000-1000
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Qi, Lin; Mok, K. R. C.; Aminian, Mahdi; Charbon, Edoardo; Nanver, Lis K. UV-Sensitive Low Dark-Count PureB Single-Photon Avalanche Diode Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2014 Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices, 61 (2014) 11, Seite 3768-3774
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Nanver, Lis K.; Hassan, Vinayak V.; Attariabad, Asma; Rosson, Nicholas; Arena, Chantal J. Broadband PureB Ge-on-Si Photodiodes Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2024 Erschienen in: IEEE Electron Device Letters, 45 (2024) 6, Seite 1040-1043
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> Medientyp Skip to next facet Aufsätze (55) Wert ausschließen Bücher (1) Wert ausschließen Konferenzberichte (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Verfügbarkeit Skip to next facet Magazinbestellung (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Standort Skip to next facet Bereichsbibliothek DrePunct (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Zugangsstatus Skip to next facet Freier Zugang (7) Wert ausschließen Ohne Angabe (49) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Sprache Skip to next facet Ohne Angabe (36) Wert ausschließen Englisch (21) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Fachgebiet Skip to next facet Mathematik (19) Wert ausschließen Physik (19) Wert ausschließen Technik (19) Wert ausschließen Chemie und Pharmazie (4) Wert ausschließen Biologie (1) Wert ausschließen Informatik (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Person/Institution Skip to next facet Nanver, Lis K. (57) Wert ausschließen Qi, Lin (11) Wert ausschließen Scholtes, Tom L. M. (9) Wert ausschließen Sarubbi, Francesco (8) Wert ausschließen Sammak, Amir (7) Wert ausschließen de Vreede, Leo C. N. (7) Wert ausschließen La Spina, Luigi (6) Wert ausschließen Buisman, Koen (5) Wert ausschließen Knežević, Tihomir (5) Wert ausschließen Popadic, Milos (5) Wert ausschließen Schellevis, Hugo (5) Wert ausschließen Suligoj, Tomislav (5) Wert ausschließen Aminian, Mahdi (4) Wert ausschließen Charbon, Edoardo (4) Wert ausschließen Huang, Cong (4) Wert ausschließen Hueting, Raymond J. E. (4) Wert ausschließen Larson, Lawrence E. (4) Wert ausschließen Rinaldi, Niccolò (4) Wert ausschließen Russo, Salvatore (4) Wert ausschließen d'Alessandro, Vincenzo (4) Wert ausschließen de Boer, Wiebe B. (4) Wert ausschließen Annema, Anne-Johan (3) Wert ausschließen Civale, Yann (3) Wert ausschließen Derakhshandeh, Jaber (3) Wert ausschließen Dutta, Satadal (3) Wert ausschließen Golshani, Negin (3) Wert ausschließen Jovanović, Vladimir (3) Wert ausschließen Lorito, Gianpaolo (3) Wert ausschließen Mohammadi, Vahid (3) Wert ausschließen Sakic, Agata (3) Wert ausschließen Scholtes, Tom L.M. (3) Wert ausschließen Scholze, Frank (3) Wert ausschließen Spirito, Marco (3) Wert ausschließen van der Cingel, Johan (3) Wert ausschließen Agarwal, Vishal (2) Wert ausschließen Akhnoukh, Atef (2) Wert ausschließen Attariabad, Asma (2) Wert ausschließen Biasotto, Cleber (2) Wert ausschließen Dekker, Ronald (2) Wert ausschließen Gentile, Gennaro (2) Wert ausschließen Gonda, Viktor (2) Wert ausschließen Gottwald, Alexander (2) Wert ausschließen Jovanovic, Vladimir (2) Wert ausschließen Knezevic, Tihomir (2) Wert ausschließen Kooijman, Kees (2) Wert ausschließen Liu, Xingyu (2) Wert ausschließen Marchetti, Mauro (2) Wert ausschließen Milosavljevic, Silvana (2) Wert ausschließen Mok, K. R. C. (2) Wert ausschließen Nauta, Bram (2) Wert ausschließen Nihtianov, Stoyan (2) Wert ausschließen Scholtes, Tom L. (2) Wert ausschließen Shi, Lei (2) Wert ausschließen Spina, Luigi La (2) Wert ausschließen Vogelsang, Patrick (2) Wert ausschließen Wien, Wim H. A. (2) Wert ausschließen d’Alessandro, Vincenzo (2) Wert ausschließen van Herwaarden, Alexander W. (2) Wert ausschließen Arena, Chantal J. (1) Wert ausschließen Azizur-Rahman, Khalifa M. (1) Wert ausschließen Bauer, Günther (1) Wert ausschließen Boer, Wiebe de (1) Wert ausschließen Capan, Ivana (1) Wert ausschließen Carbone, Dina (1) Wert ausschließen Civale, Y. (1) Wert ausschließen D. Thammaiah, Shivakumar (1) Wert ausschließen De Boer, Wiebe (1) Wert ausschließen Etzelstorfer, Tanja (1) Wert ausschließen Goudena, Egbert J. G. (1) Wert ausschließen Goudena, Egbert J.G. (1) Wert ausschließen Grützmacher, Detlev (1) Wert ausschließen Gupta, Gaurav (1) Wert ausschließen Hardeveld, Erwin (1) Wert ausschließen Hassan, Vinayak V. (1) Wert ausschließen Heerkens, Carel Th.H. (1) Wert ausschließen Holý, Vaclav (1) Wert ausschließen Hrauda, Nina (1) Wert ausschließen Jiang, Lai (1) Wert ausschließen Kessels, W. M. M. (1) Wert ausschließen Kim, Jae-Ryoung (1) Wert ausschließen Krakers, Max (1) Wert ausschließen Kroth, Udo (1) Wert ausschließen Lin, Yu (1) Wert ausschließen Liu, Xiao-dong (1) Wert ausschließen Loos, Joachim (1) Wert ausschließen Mah, Jasmine J. (1) Wert ausschließen Mandl, Bernhard (1) Wert ausschließen Marković, Lovro (1) Wert ausschließen Mary-Joy, Rani (1) Wert ausschließen Milovanović, Vladimir (1) Wert ausschließen Moers, Jürgen (1) Wert ausschließen Mok, Caroline K. R. (1) Wert ausschließen Mok, K. R. M. (1) Wert ausschließen Nenadovic, Neboja (1) Wert ausschließen Osrečki, Željko (1) Wert ausschließen Ovchinnikov, Denis (1) Wert ausschließen Pelk, Marco J. (1) Wert ausschließen Poljak, Mirko (1) Wert ausschließen Popadić, Miloš (1) Wert ausschließen Qureshi, Jawad (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Kollektion Skip to next facet Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (CrossRef) (31) Wert ausschließen Elsevier BV (CrossRef) (8) Wert ausschließen Springer Science and Business Media LLC (CrossRef) (7) Wert ausschließen The Electrochemical Society (CrossRef) (4) Wert ausschließen AIP Publishing (CrossRef) (2) Wert ausschließen American Chemical Society (ACS) (CrossRef) (1) Wert ausschließen MDPI AG (CrossRef) (1) Wert ausschließen Optica Publishing Group (CrossRef) (1) Wert ausschließen SPIE (CrossRef) (1) Wert ausschließen Verbunddaten SWB (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen