Zum Inhalt springen

  1. O'Connor, Patrick D. T. [VerfasserIn]

    Practical reliability engineering

    Bücher
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    London [u.a.]: Heyden, 1981

  2. O'Connor, Patrick D.T.

    The Reliability Handbook

    Aufsätze
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Institution of Engineering and Technology (IET), 1983

    Erschienen in: Electronics and Power

  3. O'Connor, Patrick D. T.

    Quality: From Customer Needs to Customer Satisfaction,(second edition), Bo Bergman and Bengt Klefsjo, Studentlitteratur, Lund, Sweden(www.studentlitteratur.se), 2003, 606 pages, SEK 100 andSix Sigma: The Pragmatic Approach,(second edition), Kjell Magnusson, Dag Kroslid and Bo Bergman, Studentlitteratur, Lund, Sweden(www.studentlitteratur.se), 2003, 478 pages, SEK 100

    Aufsätze
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Wiley, 2004

    Erschienen in: Quality and Reliability Engineering International

  4. O'Connor, Patrick D. T.

    Performance-based Quality Assurance of Electronic Hardware: With a Focus on Shortening Time-to-market, Per-Erik Tegehall, IVF Industrial Research and Development Corporation, Mőlndal, Sweden(www.ivf.se), 2002, 75 pages

    Aufsätze
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Wiley, 2004

    Erschienen in: Quality and Reliability Engineering International

  5. O’Connor, Patrick D. T.

    Comment

    Aufsätze
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    Informa UK Limited, 2010

    Erschienen in: Technometrics