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  1. Fuchs, Stefan [InterviewerIn]; Pawlowski, Ralph [InterviewteR] ; Büro für Chancengleichheit Karlsruhe, Büro für Chancengleichheit Karlsruhe, Karlsruher Institut für Technologie, Karlsruher Institut für Technologie

    KIT-Kinder-Uni - Auftaktmesse

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    Karlsruhe: KIT-Bibliothek Süd, [2018]

    Erschienen in: Campus-Report bei Radio Regenbogen ; 2018,07,31

  2. Fuchs, Stefan [InterviewerIn]; Pawlowski, Ralph [InterviewteR] ; Karlsruher Institut für Technologie, Karlsruher Institut für Technologie

    Wissenschaft zum Anfassen - Die 15. KIT-Kinder-Uni geht zu Ende

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    Karlsruhe: KIT-Bibliothek Süd, 2017

    Erschienen in: Campus-Report bei Radio Regenbogen ; 2017,08,15

  3. Fuchs, Stefan [InterviewerIn]; Pawlowski, Ralph [InterviewteR] ; Büro für Chancengleichheit Karlsruhe, Büro für Chancengleichheit Karlsruhe

    Anfassen, Mitmachen, Verstehen - die 14. Karlsruher Kinder-Uni hat begonnen

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    Karlsruhe: KIT-Bibliothek Süd, 2016

    Erschienen in: Campus-Report bei Radio Regenbogen ; 2016,08,09

  4. Shih, Hsiao-Yi; Yeh, Tung-Feng; Reiser, Arnost; Dammel, Ralph R.; Merrem, Hans-Joachim; Pawlowski, Georg

    Percolation view of novolak dissolution: 3. dissolution inhibition

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    SPIE, 1994

    Erschienen in: Advances in Resist Technology and Processing XI

  5. Eckes, Charlotte; Pawlowski, Georg; Przybilla, Klaus J.; Meier, Winfried; Madore, Michel; Dammel, Ralph R.

    Process latitude for the chemical amplification resists AZ PF514 and AZ PN114

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    SPIE, 1991

    Erschienen in: Advances in Resist Technology and Processing VIII

  6. Pawlowski, Georg; Dammel, Ralph R.; Lindley, Charlet R.; Merrem, Hans-Joachim; Roeschert, Heinz; Lingnau, Juergen

    Chemically amplified DUV photoresists using a new class of photoacid-generating compounds

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    SPIE, 1990

    Erschienen in: SPIE Proceedings

  7. Dammel, Ralph R.; Lindley, Charlet R.; Meier, Winfried; Pawlowski, Georg; Theis, Juergen; Henke, Wolfgang

    Considerations on the focus latitude for G-line and DUV resists

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    SPIE, 1990

    Erschienen in: Optical/Laser Microlithography III

  8. Roeschert, Horst; Dammel, Ralph R.; Eckes, Charlotte; Kamiya, K.; Meier, Winfried; Przybilla, Klaus J.; Spiess, Walter; Pawlowski, Georg

    DN 21, DN 41: negative-tone photoresists for deep-UV lithography

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    SPIE, 1992

    Erschienen in: SPIE Proceedings

  9. Przybilla, Klaus J.; Roeschert, Heinz; Spiess, Walter; Eckes, Charlotte; Chatterjee, Subhankar; Khanna, Dinesh N.; Pawlowski, Georg; Dammel, Ralph R.

    Progress in DUV resins

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    SPIE, 1991

    Erschienen in: Advances in Resist Technology and Processing VIII