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  1. Biereigel, Stefan [Verfasser:in]; Kulis, Szymon [Verfasser:in]; Moreira, Paulo Rodrigues Simoes [Verfasser:in]; Kölpin, Alexander [Verfasser:in]; Leroux, Paul [Verfasser:in]; Prinzie, Jeffrey [Verfasser:in] ; Technische Universität Hamburg, Technische Universität Hamburg Institut für Hochfrequenztechnik

    Radiation-tolerant all-digital PLL/CDR with varactorless LC DCO in 65 nm CMOS

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    2021

    Erschienen in: Electronics ; 10(2021), 22 vom: 10. Nov., Artikel-ID 2741, Seite 1-16

  2. Biereigel, Stefan [Verfasser:in]; Kulis, Szymon [Verfasser:in]; Leroux, Paul [Verfasser:in]; Moreira, Paulo Rodrigues Simoes [Verfasser:in]; Kölpin, Alexander [Verfasser:in]; Prinzie, Jeffrey [Verfasser:in] ; Technische Universität Hamburg, Technische Universität Hamburg Institut für Hochfrequenztechnik

    Single-event effect responses of integrated panar inductors in 65 nm CMOS

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    2021

    Erschienen in: Institute of Electrical and Electronics Engineers: IEEE transactions on nuclear science ; 68(2021), 11, Seite 2587-2597

  13. Adom-Bamfi, Gideon; Biereigel, Stefan; Leroux, Paul; Prinzie, Jeffrey

    Single-Event Effect Responses of CMOS Integrated Planar Multiturn Inductors in LC-Tank Oscillators Under Heavy-Ion Microbeam Irradiation

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    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2024

    Erschienen in: IEEE Transactions on Nuclear Science, 71 (2024) 7, Seite 1380-1390

  17. Prinzie, Jeffrey; Christiansen, Jorgen; Moreira, Paulo; Steyaert, Michiel; Leroux, Paul

    A 2.56-GHz SEU Radiation Hard $LC$ -Tank VCO for High-Speed Communication Links in 65-nm CMOS Technology

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    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2018

    Erschienen in: IEEE Transactions on Nuclear Science, 65 (2018) 1, Seite 407-412

  19. Prinzie, Jeffrey; Christiansen, Jorgen; Moreira, Paulo; Steyaert, Michiel; Leroux, Paul

    Comparison of a 65 nm CMOS Ring- and LC-Oscillator Based PLL in Terms of TID and SEU Sensitivity

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    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2017

    Erschienen in: IEEE Transactions on Nuclear Science, 64 (2017) 1, Seite 245-252