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  1. Fuchs, Günther [VerfasserIn]; Scholze, Udo [VerfasserIn]; Zimmermann, Detlev [VerfasserIn]

    Werden und Vergehen einer Demokratie : Frankreichs Dritte Republik in neun Porträts ; Léon Gambetta, Jules Ferry, Jean Jaurès, Georges Clemenceau, Aristide Briand, Léon Blum, Edouard Daladier, Philippe Pétain, Charles de Gaulle

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    Leipzig: Leipziger Universitätsverl., 2004

  2. Gerber, Regina [VerfasserIn] ; Püschel, Manfred [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Scholze, Udo [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Henseke, Hans [HerausgeberIn]; Henseke, Manfred [HerausgeberIn]

    Zu einigen aktuellen Problemen der Politik des französischen Imperialismus

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    Potsdam: Pädagogische Hochschule "Karl Liebknecht", 1982

    Erschienen in: Pädagogische Hochschule Karl Liebknecht: Potsdamer Forschungen der Pädagogischen Hochschule "Karl Liebknecht" / A ; 52

  3. Reichel, Thomas; Gottwald, Alexander; Kroth, Udo; Laubis, Christian; Scholze, Frank

    Developments in calibration of EUV and VUV detectors for solar orbiter instrumentation using synchrotron radiation

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    SPIE, 2016

    Erschienen in: SPIE Proceedings

  4. BenMoussa, Ali; Giordanengo, Boris; Gissot, Samuel; Meynants, Guy; Wang, Xinyang; Wolfs, Bram; Bogaerts, Jan; Schuhle, Udo; Berger, Guy; Gottwald, Alexander; Laubis, Christian; Kroth, Udo; Scholze, Frank

    Characterization of Backside-Illuminated CMOS APS Prototypes for the Extreme Ultraviolet Imager On-Board Solar Orbiter

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    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2013

    Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices

  5. Tuemmler, Johannes; Scholze, Frank; Brandt, Guido M.; Meyer, Bernd; Scholz, Frank; Vogel, Katrin; Ulm, Gerhard; Poier, Michael; Klein, Udo; Diete, Wolfgang

    New PTB reflectometer for the characterization of large optics for the extreme-ultraviolet spectral region

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    SPIE, 2002

    Erschienen in: Emerging Lithographic Technologies VI

  6. Nanver, Lis K.; Qi, Lin; Mohammadi, Vahid; Mok, K. R. M.; de Boer, Wiebe B.; Golshani, Negin; Sammak, Amir; Scholtes, Thomas L. M.; Gottwald, Alexander; Kroth, Udo; Scholze, Frank

    Robust UV/VUV/EUV PureB Photodiode Detector Technology With High CMOS Compatibility

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    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2014

    Erschienen in: IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics