Zum Inhalt springen

  1. Franke, Eva; Schubert, Mathias; Neumann, Horst; Tiwald, Thomas E.; Thompson, Daniel W.; Woollam, John A.; Hahn, Jens; Richter, Frank

    Phase and microstructure investigations of boron nitride thin films by spectroscopic ellipsometry in the visible and infrared spectral range

    Aufsätze
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    AIP Publishing, 1997

    Erschienen in: Journal of Applied Physics