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  2. Stadler, Sebastian [Verfasser:in] ; Treis, Johannes [Akademische:r Betreuer:in]; Kersch, Alfred [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Gramich, Matthias [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Max-Planck-Gesellschaft Halbleiterlabor (MPG-HLL)

    Proof of Concept for Single-phase SOI-based Microchannel Cooling of Large Semiconductor Detectors by Fabricating and Verifying Equivalent Test Structures

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    München: Hochschule für Angewandte Wissenschaften München, 2022

  5. Zhang, Chen; Lechner, Peter; Lutz, Gerhard; Treis, Johannes; Wölfel, Stefan; Strüder, Lothar; Nan Zhang, Shuang

    Development of X-type DEPFET Macropixel detectors

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    Elsevier BV, 2008

    Erschienen in: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment, 588 (2008) 3, Seite 389-396

  6. Müller-Seidlitz, Johannes; Andritschke, Robert; Bähr, Alexander; Meidinger, Norbert; Ott, Sabine; Richter, Rainer H.; Treberspurg, Wolfgang; Treis, Johannes

    Spectroscopic performance of DEPFET active pixel sensor prototypes suitable for the high count rate Athena WFI detector

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    SPIE, 2016

    Erschienen in: SPIE Proceedings (2016)

  7. Müller, Philipp L.; Pfau, Maximilian; Treis, Tim; Pascual-Camps, Isabel; Birtel, Johannes; Lindner, Moritz; Herrmann, Philipp; Holz, Frank G.

    PROGRESSION OF ABCA4-RELATED RETINOPATHY : Prognostic value of demographic, functional, genetic, and imaging parameters : Prognostic value of demographic, functional, genetic, and imaging parameters

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    Ovid Technologies (Wolters Kluwer Health), 2020

    Erschienen in: Retina, 40 (2020) 12, Seite 2343-2356

  8. Bombelli, Luca; Fiorini, Carlo; Ricca, Angelo Antonino; Porro, Matteo; Herrmann, Sven; Wassatsch, Andreas; Treis, Johannes; Lauf, Thomas; Lechner, Peter

    First Readout of a 64 $\times$ 64 DEPFET Matrix With VELA Circuit

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    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2009

    Erschienen in: IEEE Transactions on Nuclear Science, 56 (2009) 6, Seite 3789-3795

  9. Wolfel, Stefan; Herrmann, Sven; Lechner, Peter; Lutz, Gerhard; Porro, Matteo; Richter, Rainer H.; Struder, Lothar; Treis, Johannes

    A Novel Way of Single Optical Photon Detection: Beating the 1/f Noise Limit With Ultra High Resolution DEPFET-RNDR Devices

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    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2007

    Erschienen in: IEEE Transactions on Nuclear Science, 54 (2007) 4, Seite 1311-1318

  13. Kastner, Linh; Bhuiyan, Teham; Le, Tuan Anh; Treis, Elias; Cox, Johannes; Meinardus, Boris; Kmiecik, Jacek; Carstens, Reyk; Pichel, Duc; Fatloun, Bassel; Khorsandi, Niloufar; Lambrecht, Jens

    Arena-Bench: A Benchmarking Suite for Obstacle Avoidance Approaches in Highly Dynamic Environments

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    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2022

    Erschienen in: IEEE Robotics and Automation Letters, 7 (2022) 4, Seite 9477-9484

  14. Bähr, Alexander; Aschauer, Stefan; Bergbauer, Bettina; Lechner, Peter H.; Majewski, Petra; Meidinger, Norbert; Ott, Sabine M.; Porro, Matteo; Richter, Rainer H.; Strüder, Lothar; Treis, Johannes

    Development of DEPFET active pixel sensors to improve the spectroscopic response for high time resolution applications

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    SPIE, 2014

    Erschienen in: SPIE Proceedings (2014)

  15. Porro, Matteo; Bianchi, Davide; De Vita, Giulio; Herrmann, Sven; Wassatsch, Andreas; Bähr, Alexander; Bergbauer, Bettina; Meidinger, Norbert; Ott, Sabine; Treis, Johannes

    VERITAS 2.0 a multi-channel readout ASIC suitable for the DEPFET arrays of the WFI for Athena

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    SPIE, 2014

    Erschienen in: SPIE Proceedings (2014)

  16. Maier, Daniel; Aschauer, Florian; Dick, Jürgen; Distratis, Giuseppe; Gebhardt, Henry; Herrmann, Sven; Kendziorra, Eckhard; Lauf, Thomas; Lechner, Peter; Santangelo, Andrea; Schanz, Thomas; Strüder, Lothar; Tenzer, Chris; Treis, Johannes

    Development of the Simbol-X science verification model and its contribution for the IXO Mission

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    SPIE, 2010

    Erschienen in: SPIE Proceedings (2010)

  17. Majewski, Petra; Andricek, Ladislav; Lauf, Thomas; Lechner, Peter; Lutz, Gerhard; Reiffers, Jonas; Richter, Rainer; Schaller, Gerhard; Schnecke, Martina; Schopper, Florian; Soltau, Heike; Stefanescu, Alexander; Strüder, Lothar; Treis, Johannes

    First results from electrical qualification measurements on DEPFET pixel detector

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    SPIE, 2010

    Erschienen in: SPIE Proceedings (2010)

  18. Segneri, Gabriele; Brown, Craig; Carpenter, James-D.; Kuhnle, Bernd; Lauf, Thomas; Lechner, Peter; Lutz, Gerhard; Rummel, Stefan; Struder, Lothar; Treis, Johannes; Whitford, Chris

    Measurement of the Current Related Damage Rate at ${-}50^\circ$C and Consequences on Macropixel Detector Operation in Space Experiments

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    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2009

    Erschienen in: IEEE Transactions on Nuclear Science, 56 (2009) 6, Seite 3734-3742

  19. San Juan, José Luis; Serrano, Javier; Mas-Hesse, J. Miguel; Treis, Johannes; Whitford, Chris; Stevenson, Tim; Pedrosa, Enrique; Moreno R, Javier; Peso, Germán; Moreno F, Javier; Lecina, María

    MIXS focal plane assembly

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    SPIE, 2008

    Erschienen in: Space Telescopes and Instrumentation 2008: Ultraviolet to Gamma Ray (2008)

  20. Holl, Peter; Fischer, Peter; Hartmann, Robert; Hasinger, Gunther; Kollmer, Johannes; Krause, Norbert; Lechner, Peter; Lutz, Gerhard; Meidinger, Norbert; Peric, Ivan; Richter, Rainer H.; Soltau, Heike; Strueder, Lothar; Treis, Johannes; Truemper, Joachim E.; Wermes, Norbert

    Active pixel sensors for imaging X-ray spectrometers

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    SPIE, 2003

    Erschienen in: SPIE Proceedings (2003)