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  1. Leiss Holzinger, Elisabeth [VerfasserIn] ; Wiesauer, Karin [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Nemeth, Alexandra [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Leitner, Michael [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Hannesschläger, Günther [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Chapter Optical Coherence Tomography – Applications in Non- Destructive Testing and Evaluation

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    [Erscheinungsort nicht ermittelbar]: InTechOpen, 2013

  2. Leiss Holzinger, Elisabeth [VerfasserIn]; Wiesauer, Karin [VerfasserIn]; Nemeth, Alexandra [VerfasserIn]; Leitner, Michael [VerfasserIn]; Hannesschläger, Günther [VerfasserIn]

    Chapter Optical Coherence Tomography – Applications in Non- Destructive Testing and Evaluation

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    [Erscheinungsort nicht ermittelbar]: InTechOpen, 2013

  7. Kastner, Johann; Schlotthauer, Erwin; Breuer, Eva; Wiesauer, Karin; Stifter, David

    Optische Kohärenztomografie und 3D-Röntgen-Computertomografie : Zwei Methoden zur zerstörungsfreien Materialprüfung und dimensionellen Messung : Zwei Methoden zur zerstörungsfreien Materialprüfung und dimensionellen Messung

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    Walter de Gruyter GmbH, 2007

    Erschienen in: Materials Testing

  11. Katletz, Stefan; Pfleger, Michael; Pühringer, Harald; Vieweg, Nico; Scherger, Benedikt; Heinen, Bernd; Koch, Martin; Wiesauer, Karin

    Efficient terahertz en-face imaging

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    The Optical Society, 2011

    Erschienen in: Optics Express

  13. Gasiorowski, Jacek; Hingerl, Kurt; Menon, Reghu; Plach, Thomas; Neugebauer, Helmut; Wiesauer, Karin; Yumusak, Cigdem; Sariciftci, Niyazi S.

    Dielectric Function of Undoped and Doped Poly[2-methoxy-5-(3′,7′-dimethyloctyloxy)-1,4-phenylene-vinylene] by Ellipsometry in a Wide Spectral Range

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    American Chemical Society (ACS), 2013

    Erschienen in: The Journal of Physical Chemistry C

  15. Chronakis, Ioannis S.; Mekras, Nikolaos D.; Wiesauer, Karin; Breuer, Eva; Stifter, David; Fuentes, Gonzalo F.; Qin, Yi

    MASMICRO micro-/nano-materials processing, analysis, inspection and materials knowledge management

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    Springer Science and Business Media LLC, 2010

    Erschienen in: The International Journal of Advanced Manufacturing Technology

  16. Stifter, David; Wiesauer, Karin; Engelke, Rainer; Ahrens, Gisela; Grützner, Gabi; Pircher, Michael; Götzinger, Erich; Hitzenberger, Christoph K.

    Optische Kohärenztomografie als neues Werkzeug für die zerstörungsfreie Werkstoffprüfung (Optical Coherence Tomography as a Novel Tool for Non-Destructive Material Characterization)

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    Walter de Gruyter GmbH, 2007

    Erschienen in: tm - Technisches Messen

  17. Wiesauer, Karin; Pircher, Michael; Götzinger, Erich; Bauer, Siegfried; Engelke, Rainer; Ahrens, Gisela; Grützner, Gabi; Hitzenberger, Christoph K.; Stifter, David

    En-face scanning optical coherence tomography with ultra-high resolution for material investigation

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    Optica Publishing Group, 2005

    Erschienen in: Optics Express

  18. Wiesauer, Karin; Pircher, Michael; Goetzinger, Erich; Engelke, Rainer; Ahrens, Gisela; Gruetzner, Gabi; Hitzenberger, Christoph K.; Stifter, David

    Ultra-high resolution optical coherence tomography for material characterization and quality control

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    SPIE, 2005

    Erschienen in: Commercial and Biomedical Applications of Ultrafast Lasers V

  19. Engelke, Rainer; Ahrens, Gisela; Arndt-Staufenbiehl, Norbert; Kopetz, Stefan; Wiesauer, Karin; Löchel, Bernd; Schröder, Henning; Kastner, Johann; Neyer, Andreas; Stifter, David; Grützner, Gabi

    Investigations on possibilities of inline inspection of high aspect ratio microstructures

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    Springer Science and Business Media LLC, 2006

    Erschienen in: Microsystem Technologies

  20. Wiesauer, Karin; Pircher, Michael; Goetzinger, Erich; Hitzenberger, Christoph K.; Engelke, Rainer; Ahrens, Gisela; Pfeiffer, Karl; Ostrzinski, Ute; Gruetzner, Gabi; Oster, Reinhold; Stifter, David

    Ultra-high resolution, polarization sensitive transversal optical coherence tomography for structural analysis and strain mapping

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    SPIE, 2006

    Erschienen in: SPIE Proceedings