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  1. Schwalb, Chris [Verfasser:in] ; Huth, Michael [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Winhold, Marcel [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Binary Pt-Si nanostructures prepared by focused electron-beam-induced deposition

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    [Erscheinungsort nicht ermittelbar]: Beilstein-Institut zur Förderung der Chemischen Wissenschaften, 2011

  4. Wang, Yongzhe; Winhold, Marcel; Kong, Mingguang; Khan, Matiullah; Frank, Pinar; Schwalb, Christian H.; Zeng, Yi

    Investigation on the habit plane of martensitic transformation in zirconia coatings

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    Springer Science and Business Media LLC, 2020

    Erschienen in: Journal of the Australian Ceramic Society, 56 (2020) 1, Seite 257-264

  5. Sattelkow, Jurgen; Froech, Johannes E.; Winkler, Robert; Schwalb, Christian; Winhold, Marcel; Fantner, Ernest G.; Plank, Harald

    3D Nano-Probes for Thermal Microscopy

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    Oxford University Press (OUP), 2018

    Erschienen in: Microscopy and Microanalysis, 24 (2018) S1, Seite 1872-1873

  10. Huth, Michael; Porrati, Fabrizio; Schwalb, Christian; Winhold, Marcel; Sachser, Roland; Dukic, Maja; Adams, Jonathan; Fantner, Georg

    Focused electron beam induced deposition: A perspective

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    Beilstein Institut, 2012

    Erschienen in: Beilstein Journal of Nanotechnology, 3 (2012), Seite 597-619

  11. Dukic, Maja; Winhold, Marcel; Schwalb, Christian H.; Adams, Jonathan D.; Stavrov, Vladimir; Huth, Michael; Fantner, Georg E.

    Direct-write nanoscale printing of nanogranular tunnelling strain sensors for sub-micrometre cantilevers

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    Springer Science and Business Media LLC, 2016

    Erschienen in: Nature Communications, 7 (2016) 1

  12. Winhold, Marcel; Schwalb, Christian H.; Porrati, Fabrizio; Sachser, Roland; Frangakis, Achilleas S.; Kämpken, Britta; Terfort, Andreas; Auner, Norbert; Huth, Michael

    Binary Pt–Si Nanostructures Prepared by Focused Electron-Beam-Induced Deposition

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    American Chemical Society (ACS), 2011

    Erschienen in: ACS Nano, 5 (2011) 12, Seite 9675-9681