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  1. Bigalke, Steve [VerfasserIn] ; Technische Universität Dresden

    Erhöhung der Elektromigrationsrobustheit in der Verdrahtung digitaler Schaltungen - [Als Manuskript gedruckt]

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    Düsseldorf: VDI-Verlag GmbH, [2020] ; Dresden: Technische Universität Dresden, Institut für Feinwerktechnik und Elektronik-Design, [2020]

    Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI / 20 ; 472

  2. Vered, Uri [VerfasserIn]

    Intersystem EMC analysis, interference, and solutions

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    Boston; London: Artech House, [2018] ; Boston: Artech House, [2018]

    Erschienen in: Artech House electromagnetics series

  3. Kuester, Edward F. [VerfasserIn]; Chang, David C. [VerfasserIn]

    Electromagnetic boundary problems

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    Boca Raton; London; New York: CRC Press, Taylor & Francis Group, [2016]

    Erschienen in: Electromagnetics, wireless, radar, and microwaves

  4. Köhler, Dennis [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Lichtforum NRW

    LED / 2014

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    2014

    Erschienen in: LED ... ; 2014,2014